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【EDSによる分析事例】Cuパッドの接合界面

各元素の分布を2次元的に見ることが可能!多層状の試料の分析の際にも有効な場合があります

Cuパッドの接合界面におけるEDSによる分析事例をご紹介いたします。 金属間化合物の定性分析(点分析)と半定量分析では、各特性X線の強度 (カウント数)を調べることで含有元素の濃度を算出。金属間化合物等は 算出された濃度比により、形成された化合物を推定することが可能です。 また線分析では、SEM画像で指定した線状の各元素の濃度分布をプロファイル することができるため、分析箇所の元素濃度変化を確認できます。 【EDSによる分析の特長】 ■金属間化合物の定性分析(点分析)と半定量分析  ・各特性X線の強度(カウント数)を調べることで含有元素の濃度を算出  ・金属間化合物等は算出された濃度比により、形成された化合物を推定 ■線分析  ・SEM画像で指定した線状の各元素の濃度分布をプロファイルできる  ・分析箇所の元素濃度変化を確認することが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

関連リンク - http://www.ites.co.jp/analyze.html

基本情報

【その他のEDSによる分析の特長】 ■面分析  ・各元素の分布を2次元的に見ることができる  ・複数の元素を重ね合わせた画像を表示することも可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

価格帯

納期

用途/実績例

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【EDSによる分析事例】Cuパッドの接合界面

技術資料・事例集

断面研磨・加工・観察・分析のトータルサポートサービス

その他資料

銅端子の断面観察とSEM/EDXによる元素分析

その他資料

SEM-EDX分析時の加速電圧の違いによる検出感度

その他資料

EDX分析時の加速電圧の違いによる変化

その他資料

取り扱い会社

アイテスは、日本アイ・ビー・エム野洲事業所の品質保証部門を母体として1993年に設立されました。 日本アイ・ビー・エム野洲事業所での最先端電子部品の不良解析・信頼性保証で培った技術力を基盤にして、半導体、ディスプレイ、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える様々な商品、サービスを国内、海外のお客様へ提供してまいりました。

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