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【分析事例】固体高分子燃料電池触媒材料の形態観察・成分分析
SEM・STEM・EDXによる触媒粒子の評価
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XPS・AESによる深さ方向分析の比較
XPS：X線光電子分光法 AES：オージェ電子分光法
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ケミカルシフトによる金属酸化物の価数評価
XPS：X線光電子分光法
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【分析事例】XRD・EBSDによるGaN結晶成長の評価
断面マッピングにより、GaNの結晶成長の様子を評価可能
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【分析事例】エッチングによる有機付着物除去
表面汚染を除去してXPSによる評価を行います
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【分析事例】薄膜表面処理後の仕事関数評価
ITO表面プラズマ処理後のUPS分析
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【分析事例】Si表面のH終端の解析
処理の違いによるSi表面のSiHや状態の定性・相対比較
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【分析事例】XPSによるGaN膜の組成・結合状態評価
目的に合わせた測定条件で評価を行います
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【分析事例】DLC膜のsp2/(sp2+sp3)比の評価
C1s波形解析を使用したsp2/(sp2+sp3)比の評価
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低温フォトルミネッセンス測定の注意事項
PL：フォトルミネッセンス法
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AESの異物分析における注意点
AES：オージェ電子分光法
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【分析事例】DLC膜のsp2/(sp2+sp3)比高精度定量化
XAFSによる高精度解析
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【分析事例】薄いカーボン膜の深さ方向分析
ダイヤモンドライクカーボン(DLC)やグラフェンの深さ方向分析が可能
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【分析事例】最表面シラノール基の評価
TOF-SIMSでシラノール基の定量的な評価が可能です
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【分析事例】高分子表面のイオン照射による損傷層の評価
GCIB（Arクラスター）を用いることで損傷層の成分・厚さ評価が可能
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【分析事例】銅(Cu)表面自然酸化膜の層構造・膜厚評価
TOF-SIMSによる深さ方向の状態評価
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【分析事例】銅(Cu)の酸化膜厚評価 保管環境による違い
TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捉えることが可能
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【分析事例】マイクロサンプリングツールを用いた異物分析
下地・基板の影響なく異物の成分を同定します
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【分析事例】高分子フィルム中の添加物成分分析
フィルム中の添加剤の表面およびGCIBを用いた深さ方向の分布評価
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【分析事例】SIMSによるSi中不純物の超高感度測定
感度を高めてpptレベルの濃度分布を評価します
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【分析事例】シリコンウェハ上の汚染原因調査
手袋由来の汚染の評価
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【分析事例】熱分解GC/MSによるスマートフォン封止剤の分析
2段階の加熱によりUV硬化系素材の分析が可能
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【分析事例】オリーブオイルの異臭成分分析
GC/MSによる製品比較で原因となるにおい成分を特定
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【分析事例】洗浄リンス液中の有機物残渣量評価
TOCやLC/MS/MSによる評価が可能です！
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【分析事例】リチウムイオン二次電池内ガスの評価
電池内ガス成分の定性・定量
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【分析事例】SEMによる極低加速電圧条件での微細構造観察
極低加速SEM観察によるセパレータ構造評価
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【分析事例】ビタミンB1・ビタミンB2の定量分析
蛍光検出器付HPLC法（公定法）による含有量の検査
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【分析事例】ビタミン剤のLC/MS/MS分析
水溶性ビタミン5種（B1・B2・B6・B12・ナイアシン）の一斉分析
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【分析事例】水中のカビ臭原因物質の分析
水中の極微量カビ臭原因物質の分析が可能
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【分析事例】LASのアルキル鎖長分布調査
粉洗剤・液体洗剤、家庭用排水等のLAS分析が可能です
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