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定量計算における妨害ピーク除去処理
XPS：Ｘ線光電子分光法
最終更新日
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透過EBSD法による30nm以下の結晶粒解析
EBSD：電子後方散乱回折法
最終更新日
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半導体のイオン化ポテンシャル評価
UPS：紫外光電子分光法
最終更新日
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【分析事例】LIB正極材料の電子構造及び局所構造解析
XAFS解析による正極材料の価数・配位数・原子間距離の評価
最終更新日
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【分析事例】クライオFIB-SEM加工食品中エマルションの観察
構造を維持したまま水分・油分の分散状態を観察
最終更新日
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クライオSEMについて
クライオ加工冷却SEM： 走査電子顕微鏡法
最終更新日
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【分析事例】IGZO膜の化学状態評価
XPS・UPSを用いた結合状態・電子状態評価
最終更新日
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【分析事例】IGZO膜の局所結晶構造解析
電子回折で結晶性・配向性を連続的に評価
最終更新日
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【分析事例】IGZO膜へのTi拡散評価
SSDP-SIMSによる高濃度層の影響を避けた測定
最終更新日
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【分析事例】IGZO膜中H濃度評価
IGZO膜中Hについて、高感度で深さ方向分布の評価が可能
最終更新日
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【分析事例】IGZO薄膜のXAFSによる局所構造解析
酸化物半導体中、金属元素の価数・配位数・構造秩序性の評価
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【分析事例】ノニルフェノール（NP）の分析
容器貸し出しから分析結果までトータルでサポートします！
最終更新日
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【分析事例】におい成分の一斉分析
ガスクロマトグラフィー質量分析器を用いたにおい成分の同定
最終更新日
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【分析事例】パッケージ品のロックイン発熱解析
Si系パワーダイオードのリーク箇所非破壊分析
最終更新日
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【分析事例】SiCパワーMOSFETのコンタクト電極評価
コンタクト電極/SiC層の界面の相同定・元素分布評価
最終更新日
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【分析事例】SiCパワーMOSFETの活性層複合評価
活性層の形状とドーパントを評価
最終更新日
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【分析事例】GaN系デバイスの発光・発熱解析
GaN系デバイス耐圧評価、及び、表面発熱分布評価のご提案
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【分析事例】直鎖アルキルベンゼンスルホン酸・塩（LAS）の分析
容器貸し出しから分析結果までトータルでサポートします！
最終更新日
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【分析事例】指定外酸化防止剤（TBHQ）のLC/MS/MS分析
高い回収率で低濃度の食品中TBHQ定量分析を実現
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【分析事例】お茶に含まれる機能性成分の定量分析
茶カテキンとカフェインの濃度評価および製品比較
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【分析事例】緑茶中カテキンのLC/MS/MS分析
熱異性化体を含むカテキン8種類の一斉分析事例
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【分析事例】機能性成分グルコシルセラミドの分析評価
LC/MSによる定性分析、HPLCによる定量分析事例
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【分析事例】ヤムイモ中ジオスゲニンのLCMS分析
ジオスゲニン配糖体の定性・定量分析
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【分析事例】高麗人参 生薬成分のLC/MS/MS分析
ギンセノシド6種（Rb1，Rc，Rd，Re，Rg1，Rg3）の一斉分析
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【分析事例】三次元SEMによる活物質体積の数値評価
Slice&Viewデータから各物質の体積計算が可能
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【分析事例】リチウムイオン二次電池正極材料の材質分布評価
正極材料の導電性をSSRMを用いてマッピング
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【分析事例】X線によるZn系バッファ層の複合評価
組成・結合状態・構造・密度の評価が可能
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【分析事例】高温XRDによる金属膜の評価
昇温過程での相転移・結晶性変化を追跡評価
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【分析事例】SiN膜中水素の結合状態別の定量
赤外吸収法によりSiN膜中のSi-H、N-Hを定量
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【分析事例】TEM・EDX・EELSのアイシャドウ成分元素分析
ナノオーダーの形態観察・元素分析が可能
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