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【分析事例】毛髪の成分分析
目的に応じた毛髪成分の評価が可能です
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【分析事例】SiCTrenchMOSFETトレンチ側壁の粗さ評価
デバイス特性に関わるトレンチ側壁の粗さを定量評価
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【分析事例】SiCディスクリートパッケージの非破壊3D構造観察
ディスクリートパッケージ内部の構造を非破壊で立体的に観察
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【分析事例】TDSによるグラフェン粉末の脱ガス分析
炭素材料中の官能基や不純物などに起因する脱ガスについて評価可能です
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【分析事例】溶液中の金属量分析
純水やウエハ洗浄液等、様々な溶液の高感度分析が可能です
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【分析事例】SNDMのSiCMOS高感度評価
SiCデバイスの拡散層構造を可視化できます（拡散層構造の高感度評価）
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【分析事例】単結晶Si表面のダメージ評価
高分解能測定と波形解析を利用してc-Siとa-Siの状態別定量が可能
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ご希望者全員プレゼント！表面分析の基礎と受託分析事例
〈XPS・TOF-SIMS〉 表面分析とは何か・表面分析の種類等、基礎的な解説を充実。また表面分析を用いた代表的な事例を掲載。
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【分析事例】角度分解XPS（ARXPS）による極薄膜組成分布評価
基板上の極薄膜についてデプスプロファイルを評価可能です
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【分析事例】Sn酸化物に対する還元処理の検証
～XPSと計算シミュレーションの比較から～ 価電子帯スペクトルからの電子状態解析
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【分析事例】眼球に投与した薬剤成分の分布評価
眼球の加工と薬剤成分の可視化（イメージング）が可能です
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【分析事例】スマートフォン用保護フィルムのAFM分析
感覚的な製品の出来映えを定量評価可能
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【分析事例】X線CTによるポリウレタン内部の空隙率評価
X線CTによる多孔質樹脂材料の解析事例
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【分析事例】CMOSセンサの総合評価
スマートフォン部品のリバースエンジニアリング
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【分析事例】飲料中ジアセチルの定量
GC/MSによりジアセチル量が評価可能
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【分析事例】グラフェンの官能基の評価
熱分解GC/MS法によりグラフェンの官能基の評価が可能
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【分析事例】はんだボール表面の酸化膜評価
球体形状試料の評価事例
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AFMデータ集
AFM :原子間力顕微鏡法
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【分析事例】SCMによるイメージセンサの拡散層形状評価
試料解体から測定まで一貫して対応します
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【分析事例】TDSによるステンレス中水素脱離量の分析
TDS（昇温脱離ガス分析法）で金属中水素の脱離量の評価が可能です
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【分析事例】セラミックス材料に含まれる微量金属の価数評価
ppmオーダーの微量金属も評価可能です
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【分析事例】ラマンマッピングによる応力評価
試料断面における応力分布を確認することが可能です
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HPLCによる有機酸の分析
HPLC：高速液体クロマトグラフ法
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【分析事例】μm(ミクロン)オーダーのXPS深さ方向分析
数μmの深さまで深さ方向分析を行います
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クリーンルーム内有機化合物の評価方法
GC/MS：ガスクロマトグラフィー質量分析法
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【分析事例】TDSによる温度保持中の脱ガス評価
温度保持中の脱ガス強度の変化を調査できます
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【分析事例】海水中のTOC量評価
塩を含む溶液中のTOC濃度の分析が可能です
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［C-SAM］超音波顕微鏡法
C-SAMは、試料の内部にある剥離などの欠陥を非破壊で観察する手法です。
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【分析事例】液中AFMソフトコンタクトレンズの表面イメージング
水溶液中でAFM分析による表面性状の定量評価ができます
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界面および深さ方向分解能について
SIMS：二次イオン質量分析法
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