半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置『GATS-7785』
Fullパネルサイズ対応！最大ポイント数24Kch対応の大容量かつ高速・高精度の検査ソルーション
当社で取り扱う、半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置 『GATS-7885』をご紹介いたします。 ガラスキャリアを使用したFOPLP/RDLの電気検査において、高速・高精度なプロービングを実現する電気検査システムです。 【特徴】 ■Fullパネルサイズ（510×515ｍｍ）検査可能 ■上側最大ポイント数24Ｋｃｈ対応 ■総合アライメント精度±3.5μｍ ■２つのタイプのRSD検査が可能 ■SEMI規格準拠 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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当社の検査対象分野は、プリント基板や半導体パッケージ、ディスプレイパネルなど。IT化の進展でますます成長する情報通信機器や普及著しいデジタル家電のコア部品です。プリント基板・半導体パッケージ・ディスプレイパネルは、目を見張るようなスピードで進化し、検査においてもより高精度な技術が求められます。当社は最先端の技術が要求されるこれらの検査分野において高いシェアを占め、「デファクト・スタンダード（業界標準）」と認知されるような製品を数多く世界中に送り出しています。