大塚電子株式会社 公式サイト

お問い合わせ
PR情報エリア
  • セミナー・イベント

Webセミナー：nanoSAQLAの基本操作とトラブルシューティング（2025年7月24日）

大塚電子株式会社

大塚電子株式会社

正しい粒子径測定を行うための基本操作とトラブルシューティングをご紹介します。 nanoSAQLAをお使い頂く中で「測定手順が少し不安。」「トラブル発生時にはどう対応したらいい？」 「購入後数年経過しているが装置は大丈夫なのかな？」などと思われることはありませんか？ 装置の基本操作からよくあるお問い合わせまでをご紹介します。 また前モデルにあたるFPARシリーズを使用中のお客様、装置の使用経験が無いお客様でもわかりやすい内容となっています。

  • 開催日時 2025年07月24日（木）
    15:00 ～ 16:00
    質疑応答の数により時間が変わります。ご了承ください。
  • 参加費 無料 当セミナーを何でお知りに なりましたか？の質問に　イプロス　とご記入ください。

関連資料

関連製品情報

  • 多検体ナノ粒子径測定システム『nanoSAQLA』

    日々の測定をかんたん・手軽に！使いやすさにこだわった粒子径測定装置をご紹介

    【測定範囲（理論値）】 ■粒子径 0.6nm～10μm ■濃度範囲 0.00001～40％ ■温度範囲 0～90℃ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 有機顔料の分散性を高濃度状態で評価

    プリンター用インクを高濃度状態で粒子径測定

    ●希薄から濃厚溶液（～40%）まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能 ●多角度測定により、分離能の高い粒子径分布の測定が可能 ●静的光散乱法を用いて粒子濃度の測定が可能

  • プリンター用インクの分散・安定性評価

    高濃度状態でインクのゼータ電位・粒子径測定が可能

    ●希薄から濃厚溶液（～40%）まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能 ●多角度測定により、分離能の高い粒子径分布の測定が可能 ●平板状サンプルのゼータ電位を高塩濃度下で測定が可能 ●標準フローセルで粒子径とゼータ電位を連続して測定が可能 ●セル内の電気浸透流を実測、プロット解析により高精度なゼータ電位測定結果を提供

関連カタログ

多検体ナノ粒子径測定システム『nanoSAQLA』

製品カタログ

このカタログにお問い合わせ

計測分析機器　総合カタログ

総合カタログ

このカタログにお問い合わせ

分析機器のアプリケーションデータ　機能性材料1（高分子・無機粒子・その他）

技術資料・事例集

このカタログにお問い合わせ

分析機器のアプリケーションデータ　機能性材料2（ナノカーボン・界面活性剤・ゲル・平板試料・分離分析）

技術資料・事例集

このカタログにお問い合わせ

ニュース一覧へ戻る
PR情報エリア