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フィルムやコーティング、非接触の厚み測定を安価な距離センサーで。斜面にも強く、距離方向分解能20nmを実現！

【CHRocodile C】フットプリントの少ないプローブ一体型タイプ ■特徴 ・スキャンレート４KHz ・光源：白色LED光源 ・測定レンジ： 200um~10mmで５種類　　　　　 ・厚み測定で単層、複数層まで測定可能（最大3層）まで ・同期I/O機能付 ・IF:Ethernet/RS422 ・HS(高感度モデル）あり ・外付ボックスにてエンコーダー、アナログ2ch取込可能 ・外寸 99 x 65 x 47 mm (プローブ無し） ・重量 440g ■特徴 【CHRocodile Mini】測定部省スペースのプローブ別体タイプ ・スキャンレート４KHz（オプションで10kHz) ・光源：白色LED光源 ・測定レンジ： 4mm 10mmの2種類　　　　　 ・厚み測定で単層、複数層まで測定可能（2層、オプションで４層）まで ・同期I/O機能付 ・IF:Ethernet/RS422 ・Mini+モデルでは、アナログ出力2ch、エンコーダー3軸入力対応 ・外寸 95 x 106 x 95 mm (コントローラ） ・重量 500g(Mini+は550g)

光学式センサで、Si0.5~200umの広範囲の厚み測定。5kHzの高速サンプリング。加工中のモニタリング用途に最適。

【その他の特長】 ■測定レンジ： 2μm～1000μm (n=1) 0.5μm～200μm (n=3.8など) ■分解能：最大3nm(n=1) ■測定周波数: 5kHz ■インターフェイス：Ethernet,RS422,アナログ(2ch) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

12inchウエハの全面厚み測定が可能。走査ステージレスで、振動の影響無しで高速測定。オンライン、オフライン、ウエハ検査用途に。

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

非接触の光学厚み測定。高精度が求められる半導体ウエハの厚み測定でも適用可能。

【その他の特長】 ■測定レンジ： 32μm～3900μm (n=1, 線形性1um) 16μm～1900μm (n=1, 線形性0.35um) ■分解能：最大1nm(n=1) ■測定周波数: 70kHz ■インターフェイス：Ethernet,RS422,アナログ(2ch) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

従来の色収差共焦点法・分光干渉法に加え、レーザー加熱を利用した厚み測定センサも登場。非接触で透明体だけでなく不透明体の厚みも測定

【原理】 当社製品は測定原理で主に3種類のラインナップがあります。 ■色収差共焦点 主に表面形状の計測に使用されていますが、透明体の厚み測定にも利用できます。分光干渉法より精度は劣りますが、安価な厚み測定をご希望の場合はこちらがお勧めです。 ■分光干渉法 主に厚み計測に使用します。分光干渉法の強みを活かしたサブミクロンの高精度測定ができます。 In-situ/モニタリング/インライン用などに必要な高速測定が可能です。 ■レーザー加熱を利用した方法(Enovasense社製センサ） レーザーダイオードで対象物を加熱。厚みに依って熱の伝搬スピードが異なるところを利用しています。独自のアルゴリズムで、対象物からの輻射熱を検知し、厚みに換算します。 【製品ラインナップ】 ・シングルポイントセンサ 高精度タイプから、100万円以下の安価なタイプもあります。 ・ラインセンサ 色収差共焦点で、稼働ステージと併用して全面測定ができます。 ・エリアスキャナセンサ 2軸ガルバノでエリアスキャンができるタイプです。 振動の影響がなく、稼働ステージ不要のエリアスキャナもあります。

非接触ラインセンサCLS。高精度・高速・広範囲の３次元形状測定。エッジや斜面に適した高許容角度性。ウエハエッジ測定実績多数

【アプリケーション】 非接触による3次元形状測定が可能です。 接触式⇒非接触式への置き換えも可能です。 ■家電（スマートフォン） ・LCDガラス ・OLEDマスク検査 ・表面の細かいスクラッチ等のキズ ・ワイヤボンディング ・ARグラス ■半導体製造プロセス ・ウエハエッジ形状測定 ・ウエハエッジ欠陥検査 ・ウエハダイシング溝外観検査 ・BGA検査 ・ICパッケージや回路検査 ■自動車関係 ・バルブ検査 ・車の内装 ・ガラス検査 ・エアバッグの溶接ビードの検査

「CHRocodile 2 ITセンサー」は、ワーク処理中にウエハーの厚さを計測できます

【その他特長】 ■オペレーターが高い研削レートを達成でき、結果として加工時間が著しく短縮 ■工程の最後に再びレートを下げ、ウエハーの滑らかな仕上げを維持可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

「CHRocodile 2 DPS色収差共焦点センサー」は、独立した2つの測定チャネルを搭載しております

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

ドープウエハに適切な光源波長を使用し、難しいドープウエハ厚み測定に対応

【その他の特長】 ■測定レンジ：2DW1000 50μm～8000μm (n=1)　 　　　　　　　2DW500 30μm～4000μm(n=1) 　　　　　　　2DW250 15μm～2000μm(n=1) ■分解能：最大1nm(n=1) ■インターフェイス：Ethernet,RS422,アナログ(2ch) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

12'ウエハ全面検査を高速化　ウエハ全数検査にも使用可能

■概要 　・ハードウェア（筐体、光学厚みセンサ、エリアスキャナ、電気キャビネット）、 　　ソフトウェア（SEMI準拠ソフトウェア）一体型のシステム。 　・最大70kHzの高速測定 (XY 160umピッチで、12'ウエハを約2分で測定） 　・Z分解能1nm~ ■厚み測定範囲 　下記光センサにより、厚み測定範囲が変わります。 CHRocodile 2 IT DW 250: 15~1500um CHRocodile 2 IT DW 500: 26~2500um CHRocodile 2 IT DW 1000: 66~7200um *厚みは光学長。Si厚み換算は、Siの屈折率で、上記厚みを割ってください。