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X線検査装置【TRI社】 TGV、Cuピラーの欠陥を高精度検出

電子実装・半導体向けAXI市場で高い採用実績

TGV、Cuピラーをはじめ微細化の進む半導体製造工程上の欠陥検出は、歩留まり向上のために必要とされながらも、既存の光学検査では限界があります。 TRI社のX線装置は半導体向けAXI市場で豊富な実績を持ち、最大解像度2µm・最大1000CTスライスの高性能で微細な検査ニーズにもお応えします。 ■主な検査対象 ・AI Cuピラー検査 ・TGV 3D AXI 検査 ・C4バンプ検査 ・SiP 3D AXI 対応 ■主なメリット ・最大解像度:2µm ・X線出力:最大110kv ・大型基板検査対応 ・ソフトウェア上で線量制限・推定が可能 ・AIによる初期調整・微調整 ご紹介のTR7600F3D SII Plus以外の機種もご相談承ります。お気軽にご相談ください。

基本情報

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型番・ブランド名

TR7600F3D SII Plus

用途/実績例

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半導体向け高解像度 X線検査装置 TR7600F3D SII Plus SERIES【TRI社】

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幅広い材料・基板において、高速・高精度の微小塗布を実現するディスペンサー装置を製作・販売しております。 国内9箇所、海外7箇所に営業網を持ちお客様により身近な存在として、ディスペンシングのソリューションをご提案いたします。