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劇物フリーのエポキシ樹脂硬化温度について
硬化時に発熱する温度について再確認するため、測定を行いました！
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高伸度軟性材料対応伸び計による引張特性評価
引張試験におけるひずみを正確に測定するためには伸び計による測定が必要！
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冷却(クライオ)イオンミリング断面加工例(ゴム製品)
おもちゃの車のタイヤを使い断面加工方法について検討を行った事例をご紹介！
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3D形状測定機(VR-6200)による加熱変形観察
VR-6200とヒーターステージを組み合わせることで加熱中の変化を可視化する事が可能に
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ポアソン比測定
測定対象に応じて適切な伸び計を選択いたしますので、お気軽にご相談ください
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Talos F200E導入のお知らせ
TEM・STEMの分解能が向上！4本の検出器でEDS分析が可能になるなど性能が大幅に強化
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断面イオンミリング(CP)加工時に発生する熱の影響
ゴム製品の断面作製や断面作製手法の比較について観察した結果をご紹介いたします！
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カプセル剤粉体のX線CT分析とEDX分析
医薬品に使⽤される粉体の粒度分布測定や構成する有機物質の組成分析(GCMSやLCMS)も実施可能！
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CFRPの動的粘弾性測定
エポキシ樹脂をマトリクスとした平織りのカーボンファイバーからなるCFRPについてDMA測定を行った結果をご紹介！
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パワーデバイスのトータルソリューションサービス
パワーデバイスをあらゆる角度から徹底評価、検証します
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LEDのトータルサポートサービス
LEDをあらゆる角度から徹底評価、検証します
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アイテス 装置一覧
アイテスの解析・評価・試験サービスに使用する装置一覧です
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半導体製品の信頼性トータル・ソリューション
半導体製品に関わる部品・装置・材料の開発評価の困難をサポート
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液晶ディスプレイの信頼性トータル・ソリューション
海外製液晶ディスプレイの信頼性に問題を抱えるお客様のために、信頼性試験から故障解析、材料分析までトータルで支援します。
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パワーデバイスの故障解析
ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・観察を行います。
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TEMによる電子部品・材料の解析
TEM（透過型電子顕微鏡）は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析、結晶構造の解析等や材料評価の幅広い要求にお応えします。
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実装部品接合部の解析
機械研磨法に化学エッチング、イオンミリング、FIB加工を施すことにより、鉛フリー半田を始め、各種金属接合部の解析を行います。
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クロスビームFIBによる断面観察
FIB加工をリアルタイムで観察しながら断面観察が可能です。
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信頼性試験サービスのご紹介
JIS・JEDEC・MIL等の標準規格に準じ、様々なエレクトロニクス製品、部品および材料の信頼性評価試験を承ります。
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ESD/ラッチアップ試験受託サービス
ESD/ラッチアップ試験受託サービス
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In-Situ常時測定 信頼性評価試験サービス
In-Situ常時測定 信頼性評価試験サービス
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海外製部品・製品 評価サービス
海外製部品・製品の中には品質上問題のあるものも含まれています。これらに対して信頼性試験・評価試験の品質評価サービスを提供します。
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イメージング顕微FT-IRによる微小異物の分析
最小5um以上あれば異物のIRデータが取得できます。
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微小異物分析のためのサンプリング技術
エレクトロニクス製品の歩留に大きな影響を与える異物について、各種サンプリング技術を駆使して迅速な分析結果をご報告します。
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TOF-SIMSによる表面分析
TOF-SIMSは軽元素、無機物から分子量の大きい有機物まで分析可能です。
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品質技術トータルソリューション
製品企画段階から性能、信頼性、廃棄、リサイクルまで考慮した品質への取組に対し、技術と経験を基に迅速で的確な解決策を提供。
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ラッチアップ試験受託サービス
CMOS ICおよびそれを含む半導体製品のラッチアップ破壊に対する耐性を評価する、ラッチアップ試験サービスをご提供いたします。
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