TOF-SIMSによる表面分析

TOF-SIMSは軽元素、無機物から分子量の大きい有機物まで分析可能です。

最終更新日 2025年06月26日

品質技術トータルソリューション

製品企画段階から性能、信頼性、廃棄、リサイクルまで考慮した品質への取組に対し、技術と経験を基に迅速で的確な解決策を提供。

最終更新日 2025年06月26日

ラッチアップ試験受託サービス

CMOS ICおよびそれを含む半導体製品のラッチアップ破壊に対する耐性を評価する、ラッチアップ試験サービスをご提供いたします。

最終更新日 2025年06月26日