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【資料】色差計による塗料の色評価
物体色を数値化することが可能！色の違いを数値化した試験結果をご紹介します
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塗膜の観察
平面傾斜切削も可能な“ミクロトーム”など！様々な製品で使用されている塗膜の観察、分析例をご紹介
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プラスチック成形品の歪、複屈折評価
複屈折位相差（歪）や流れ方向・応力方向（主軸方位）の視覚化が可能です！
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ABS樹脂のFT-IR分析
知見とスペクトル解析力、そしてその他の分析手段など様々なアプローチで物質を特定
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イオンクロマト分析事例（固体表面）
プリント基板などの平板試料の相対比較に好適！液体試料と固体表面の分析の流れをご紹介
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超微小硬度計による材料の特性評価
超微小硬度測定の荷重変曲線から、様々な材料の顔（特性）が見えてきます！
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断面観察によるはんだのクラック率測定
ボールジョイントのクラック率算出など、お客様のご要望に合わせた仕様で実施！
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積層基板の斜めCT観察
積層基板では各層毎の情報を得ることが可能！測長ツールを用いることで長さを測定できます
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ポリエチレンのFT-IR分析
FT-IRにて微妙なスペクトルの差を解析！高温、冷熱などの信頼性試験と組み合わせてのご対応も可能
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WPAによる製品／素材の歪、複屈折評価
素材の配向、歪、複屈折を評価することで、内部応力、歪状態を把握できます！
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ダイヤモンドのクラリティ観察
マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を観察することができます！
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電解コンデンサのX線観察
正常品と劣化品について外観確認やX線CTによる内部観察を行いました！
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【TOF-SIMSの事例】Liの分析
感度よく検出することが可能！TOF-SIMSとSEM-EDXでLiの分析を比較した事例をご紹介
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発熱解析による電子部品の故障箇所特定
故障箇所特定から内部観察までを非破壊で実施する事が可能！高精度な発熱箇所の特定ができます
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ナイロン6.10の構造解析
特長を当社のFT-IR、熱分解GC-MSを使用して分子レベルで解き明かしていきます！
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MALDI-TOFMSによる顔料、ポリマー分析
絶対値として質量数を検出！化合物の組成に関する情報を得る事が出来ます
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【資料】不具合の原因を化学の視点で解決します
不具合の原因を化学の視点で解決！化学、および反応機構でアプローチする方法をご紹介
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XPSによるバンドギャップの簡易測定
XPSを使用して簡易的に測定することが可能！酸化物系以外の半導体もお問合せください
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【資料】ビニルポリマー（樹脂材料）のIR分析
ポリスチレン、塩化ビニル（塩ビ）などのIR分析を行った結果をご紹介！
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真贋調査（比較観察）
正規品又は標準品と調査対象品を比較！サイレントチェンジされていないか等を調査
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【資料】偏光フィルムおよび光拡散フィルムの劣化分析
使用サンプルとその特性や偏光フィルム・光拡散フィルムの劣化分析結果などをご紹介！
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【資料】透明樹脂のFT-IR分析
液晶ディスプレイの周辺部材、繊維などの原料（ペレット）をIR分析した結果をご紹介！
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光硬化樹脂中重合開始剤の分析
材料中の微量成分を熱脱着GCMSにて分析！様々な材料のキャラクタリゼーションを行います
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【資料】MEMS部品の構造解析
MEMS部品の構造を非破壊・破壊的手法を組み合わせ、総合的に解析！
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【資料】EPMA分析例 その2
EPMAによる分析は、PET、PETH分光結晶で検出することができ、17Clと47Agのピーク分離が可能！
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表面分析ガイド
様々な表面分析手法！異物、変色、汚染などのお困りごとの解決に向けてお役立て致します
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【資料】XPS（ESCA）による変色変質素材の表面分析
問題の対策や回避が可能！元素および結合状態分析で比較検証した事例をご紹介
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【EBSDによる解析例】シリコンウエハ
測定したシリコンウエハは単結晶！IPFマップ、極点図、逆極点図は比較的シンプルな結果になりました
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FE-SEM観察（Alワイヤボンディング部結晶粒観察）
⾼輝度電⼦銃による緻密なSEM画像！表⾯情報に敏感なインレンズSE検出器を装備
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BGA・CSP はんだの評価
はんだ内ボイドの面積率を測定！機械研磨を組み合わせることで総合的な評価が可能
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