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【資料】EPMA分析例
LIF、LIFH分光結晶を用いることで、22Tiと56Baのピーク分離が可能になります！
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【資料】ICP発光分光分析（ICP-AES）
原子が励起状態から基底状態に戻るときに生じる原子発光を検出し分析を行います！
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【資料】SEG-LCDパネル表示不良解析
GC-MS分析やICP-AES分析など！化学分析により比較解析した事例をご紹介しています
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【資料】ウィスカ観察～平面ウィスカ観察のコツ～
装置による見え方の違いやサンプル角度による見え方の違いや光源などをご紹介！
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【資料】色差計による樹脂の表色系、および透過率評価
透明樹脂の恒温恒湿試験前後における表色系、透過率の変化結果をご紹介！
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【SEMによる断面観察】コネクタめっき
真実を探求！通信が悪くなった場合はコネクタ端子の不具合を疑ってみてもいいかもしれません
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試料包埋時のエポキシ樹脂硬化温度について
大きめの実装基板でも、埋める前の切断なしで樹脂包埋が可能！発熱防止処理あり/なしの場合をご紹介
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メルトフローレイト（MFR）測定評価サービス
化学分析・物理解析から信頼性試験までお任せください！測定評価サービスのご紹介
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【資料】材料の信頼性試験から化学分析までご対応します
保有する知⾒と豊富な装置で不具合、お困りごとを解決いたします！
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BGA・CSP はんだの評価
はんだ内ボイドの面積率を測定！機械研磨を組み合わせることで総合的な評価が可能
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FE-SEM観察（Alワイヤボンディング部結晶粒観察）
⾼輝度電⼦銃による緻密なSEM画像！表⾯情報に敏感なインレンズSE検出器を装備
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【EBSDによる解析例】シリコンウエハ
測定したシリコンウエハは単結晶！IPFマップ、極点図、逆極点図は比較的シンプルな結果になりました
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【資料】XPS（ESCA）による変色変質素材の表面分析
問題の対策や回避が可能！元素および結合状態分析で比較検証した事例をご紹介
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表面分析ガイド
様々な表面分析手法！異物、変色、汚染などのお困りごとの解決に向けてお役立て致します
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【資料】EPMA分析例 その2
EPMAによる分析は、PET、PETH分光結晶で検出することができ、17Clと47Agのピーク分離が可能！
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【資料】MEMS部品の構造解析
MEMS部品の構造を非破壊・破壊的手法を組み合わせ、総合的に解析！
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光硬化樹脂中重合開始剤の分析
材料中の微量成分を熱脱着GCMSにて分析！様々な材料のキャラクタリゼーションを行います
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【資料】透明樹脂のFT-IR分析
液晶ディスプレイの周辺部材、繊維などの原料（ペレット）をIR分析した結果をご紹介！
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【資料】偏光フィルムおよび光拡散フィルムの劣化分析
使用サンプルとその特性や偏光フィルム・光拡散フィルムの劣化分析結果などをご紹介！
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真贋調査（比較観察）
正規品又は標準品と調査対象品を比較！サイレントチェンジされていないか等を調査
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【資料】ビニルポリマー（樹脂材料）のIR分析
ポリスチレン、塩化ビニル（塩ビ）などのIR分析を行った結果をご紹介！
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XPSによるバンドギャップの簡易測定
XPSを使用して簡易的に測定することが可能！酸化物系以外の半導体もお問合せください
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【資料】不具合の原因を化学の視点で解決します
不具合の原因を化学の視点で解決！化学、および反応機構でアプローチする方法をご紹介
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MALDI-TOFMSによる顔料、ポリマー分析
絶対値として質量数を検出！化合物の組成に関する情報を得る事が出来ます
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ナイロン6.10の構造解析
特長を当社のFT-IR、熱分解GC-MSを使用して分子レベルで解き明かしていきます！
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発熱解析による電子部品の故障箇所特定
故障箇所特定から内部観察までを非破壊で実施する事が可能！高精度な発熱箇所の特定ができます
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【TOF-SIMSの事例】Liの分析
感度よく検出することが可能！TOF-SIMSとSEM-EDXでLiの分析を比較した事例をご紹介
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電解コンデンサのX線観察
正常品と劣化品について外観確認やX線CTによる内部観察を行いました！
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ダイヤモンドのクラリティ観察
マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を観察することができます！
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WPAによる製品／素材の歪、複屈折評価
素材の配向、歪、複屈折を評価することで、内部応力、歪状態を把握できます！
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