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【イメージングFT-IRによる有機多層膜の分析】アルミ
マイクロATR結晶を密着！赤外線の全反射により表面付近の分析を⾏う⼿法のご紹介です
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イオンクロマト分析
固体試料は、イオン性成分を純水に溶出！水溶液中の微量なイオン性成分を高感度に検出可能です
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【SEMによる破断面観察】カニカン
長期の使用により破損したカニカンの破断面について観察を行いました！
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Liイオン電池セパレータの解析
高温時におけるポリマー溶融の遮断機能について確認しました！
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FT-IR分析のための液体異物サンプリング技術
キャピラリーを用いて表面張力によってサンプリング！FT-IR分析が可能となりました
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FT-IRによる樹脂硬化度の測定
接着剤の硬化反応の進行（硬化度）をモニターすることが可能！
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【保有設備】FIB（Focused Ion Beam)
半導体、MEMS、液晶ガラスなど！微小領域の断面加工やTEM試料の作製が可能
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EPMA分析
100×100mmサイズも対応！ステージ可動により広範囲のマッピングが可能
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EPMAによる微量元素の検出
検出感度が良好！特に微量成分の定量分析やマップ分析等に優れています
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EPMAによる状態分析
標準スペクトルと比較することで結合状態を推定！EPMAによる状態分析をご紹介
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【EBSDによる解析例】カニカン
長期の使用により破損したカニカンの破断部に関する解析例をご紹介！
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CCDカメラモジュールの断面加工観察
当社の高い技術で、難易度の高い試料の断面も作製できます！
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【不良解析事例】ACアダプターのX線観察
非破壊で行えるX線観察は初期観察に有効！不良解析事例をご紹介します
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Φ8インチIC・MEMSファウンドリーサービス開始
最大8インチＭＥＭＳラインを有するオムロン野洲事業所にてウェハ工程の試作から量産までお客様の様々なご要望にお応えいたします！
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【資料】EBSDによるウイスカ解析
ICパッケージのリード端子に発生したウィスカについて解析した事例を紹介！
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【資料】イオンクロマトによる低分子有機酸の分析事例
一部の有機物を検出可能！低分子有機酸を陰イオン交換モードで測定した例をご紹介
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発光解析のための半導体の裏面研磨
様々な形態の半導体で裏面研磨が可能！素子、不具合の様子の観察が出来ます
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LEDの故障解析
高度な試料作製技術と半導体用の故障解析装置を応用！不点灯や輝度劣化の原因を調査
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【資料】化学反応機構研究所 異種材料界面剥離メカニズム1
主鎖骨格が類似のPET、PENフィルムの線膨張率の違いとその差異を生むメカニズムを解明した事例をご紹介
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超微⼩硬度計による材料評価
経年の品質管理にも役⽴つ！⾦属・⾼分⼦・セラミックス等の材料の超微⼩硬度測定
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EBSDによる解析例（セラミック）
「観察/元素分析」や「EBSDによる解析」など！EBSDによる解析例を紹介致します
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顕微ラマンによる無機化合物の分析
金属酸化物などの無機化合物の分析も可能！銅張積層板表面の黒点分析をご紹介します
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顕微ラマンによる金属腐食の分析
金属酸化物などの無機化合物の分析も可能です！
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【資料】化学反応機構研究所 材料変色原因解明事例
素材ポリアミドイミドやIR装置による分析結果、データ解析などをを分かりやすく掲載！
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液晶パネルの不良解析
点灯確認、パネル解体、光学顕微鏡観察により、不良発生箇所を絞り込みます！
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フレキシブル基板（FPC）のEBSD解析
屈曲部の配線に歪みが蓄積している個所などが分かる、EBSD解析をご紹介します！
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パワー半導体の解析サービス
故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします！
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MLCCクラック X線観察
外観で確認できなかったクラックも、X線なら見つかるかもしれません！
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ウィスカ評価
検査員が逃さず観察！信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能です
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EBAC（吸収電流）法による不良箇所の絞込み
「SEM像」や「吸収電流像（電流センス）」など！配線のオープン不良、高抵抗不良箇所を特定します
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