【分析事例】製造装置・部品
【分析事例】製造装置・部品
製造装置・部品の分析事例をご紹介します
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【分析事例】TDSによる銅板・はんだの同時加熱分析
部材同士を接触させ、実プロセスに近い環境での脱ガス評価が可能
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角度分解HAXPES測定
HAXPES：硬X線光電子分光法
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【分析事例】撥水箇所の成分分析
TOF-SIMSは複数成分の広域イメージング評価が可能です
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【分析事例】Oリングの使用履歴による形状評価
X線CTにより部品の非破壊観察・厚さ分布解析が可能
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【分析事例】表面分析による品質管理
表面の付着成分(ポリジメチルシロキサンなど)をTOF-SIMSで評価できます
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【分析事例】SiC基板表面および内部の不純物濃度測定
ICP-MS、 GDMSにより基板表面と内部とを切り分けて分析
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【分析事例】セラミックスの変色原因評価
TOF-SIMSでは無機材料の変色原因のイメージングが可能
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【分析事例】セラミックス表面における洗浄成分の分布評価
洗浄成分の分布の可視化や深さ方向の分布の評価が可能
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【分析事例】セラミックスのぬれ性原因評価
無機材料の親水・撥水箇所に特徴的な有機物の分析ができます
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【分析事例】FeCoNi合金の不純物分析
GDMSを用いて77元素を同時に分析することが可能です。
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【分析事例】部材の有機汚染分析
TD-GC/MSにより部材に付着した微量の有機汚染を分析します。
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【分析事例】ゴム製品に含まれる添加剤の成分分析
ゴム製品中の加硫促進剤、老化防止剤、滑剤等を網羅的に定性評価します。
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X線CTを用いたin situ測定の受託分析サービス
加熱/冷却や応力・圧縮の負荷状態での三次元構造観察が可能です
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信頼性試験の一覧
信頼性試験（Reliability Test）
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固体試料表面の質量分析法の使い分け
目的成分やイメージ ング視野の大きさなどに応じて、両手法を使い分けることが有効です
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HAXPESによるオージェピークの重複を回避した評価
Ga線（HAXPES）およびAl線・Mg線（XPS）測定によるスペクトル比較
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【分析事例】TDSによるα-アルミナ（α-Al2O3）の分析
セラミックスの昇温脱離ガス分析
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【分析事例】X線CT・GC/MSガラス繊維強化プラスチックの評価
目的に応じGFRPの評価が可能です
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【分析事例】ポリウレタンの黄変原因調査
LCでPDAとMSを併用し、着色抽出物が定性可能です。
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【分析事例】樹脂(合成高分子)の定性・構造解析
FT-IRと熱分解GC/MSの複合解析により分子構造の知見が得られます
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【分析事例】樹脂から発生する腐食性ガスの分析
樹脂から発生する腐食性ガスの分析
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【分析事例】XPSによる結合状態マッピング
mmオーダーで試料表面の汚染、表面処理等の分布評価が可能です
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【分析事例】XPSによる広域定量マッピング
最大70×70mm領域の組成分布評価が可能です
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【分析事例】切断加工を併用した金属配管内壁のXPS分析
試料の切断加工から変色・腐食の原因調査までワンストップで対応します
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【分析事例】3Dプリンター用樹脂のアウトガス分析
発生ガス濃縮装置によりアウトガスの高感度分析が可能
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