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HAXPESによるオージェピークの重複を回避した評価

Ga線(HAXPES)およびAl線・Mg線(XPS)測定によるスペクトル比較

HAXPESでは励起光に硬X線(Ga線)を用いており、通常のXPS測定で用いられるAl線・Mg線とはオージェピークの位置が異なります。そのため、Al線・Mg線測定において光電子ピークとオージェピークが重複した試料でも、Ga線測定ではその重複を回避でき、詳細な結合状態評価が可能です。 本資料では、Ga線(HAXPES搭載)およびAl線・Mg線(XPS搭載)で測定した、コバール(Fe,Ni,Coの合金)およびGaNのスペクトルを紹介します。

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HAXPESによるオージェピークの重複を回避した評価_B0273

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