ディスクリート 超高速テスター『NANOPARSET』│itec
6端子または12端子までのディスクリート半導体に対応！モジュラー式のパラメータテストシステム
『NANOPARSET』は、超高速テスト時間により1時間あたり最大92,000個のデバイスをテストできるパラメータテストシステムです。市場最速クラスのテストセルを実現します。 最大4つのテストヘッドを1つに統合することで、24ピンパッケージを最高クラスのスループットでテストできます。また、リレーを切り替えることなく高速ケルビンチェックを行い、破損を防ぎます。最小限の設置面積しか占有せず、ウェーハテスター、PCMテスター、バックエンドの最終テスターとして使用可能です。 【特長】 ■超高速テスト時間によりUPH向上 ■リレー不要の高速ケルビンチェックで破損防止 ■最小限の設置面積 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
【仕様】 ■ほぼゼロの設置面積（213 x 440 mm） ■市場最高クラスの精度 ■ブースターコントローラ (nTHBC) 1台 ■最大4台のテストヘッド (nSBTH)、6チャンネル ■スイッチングリレー不要の高速ケルビンチェック ■超高速リークテスト ■ピンエレクトロニクス ■マルチサイトテスト ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
用途／実績例
【用途・実績例】 ■複数の試験セルの装置制御 ■バックエンド最終テスト ■後処理 ■ウェハテスト ■動的部品平均試験 ■PCMテスト ■静的部品平均試験 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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