【分析事例】電子部品
【分析事例】電子部品
電子部品の分析事例をご紹介します
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【分析事例】FT-IRによるエポキシ樹脂の硬化度評価
官能基の変化を捉えることで樹脂の硬化度を評価することが可能です
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【分析事例】真空中での有機成分の脱離評価
複合解析により特定の有機成分の脱離について温度依存性評価が可能です
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【分析事例】TDSによる銅板・はんだの同時加熱分析
部材同士を接触させ、実プロセスに近い環境での脱ガス評価が可能
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【分析事例】FT-IRによるポリイミド樹脂の硬化度評価
官能基の変化を捉えることで樹脂のイミド化率を評価することが可能です
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【分析事例】FT-IRによるUV硬化樹脂の硬化度評価
官能基の変化を捉えることで樹脂の硬化度を評価することが可能です
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【分析事例】C-SAMによる貼り合せウエハ内部の空隙調査
デバイス内部の構造を複合的に評価します
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【分析事例】クリームはんだ中フラックスの成分分析
クリームはんだ中のロジン、チキソ剤、活性剤などを網羅的に定性します。
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【分析事例】エポキシ樹脂硬化剤の分析
2液性エポキシ樹脂の硬化剤成分の構造推定
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【分析事例】Cu表面のXPSによる酸化状態評価
Cuスペクトルの成分分離、定量、膜厚算出
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角度分解HAXPES測定
HAXPES：硬X線光電子分光法
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【分析事例】光ファイバーのコアとクラッドの定性評価
TOF-SIMSにより光ファイバーの材料の定性・分布評価が可能です
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【分析事例】撥水箇所の成分分析
TOF-SIMSは複数成分の広域イメージング評価が可能です
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EV関連分析事例
分析でEV開発のEVolutionを！
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【分析事例】表面分析による品質管理
表面の付着成分(ポリジメチルシロキサンなど)をTOF-SIMSで評価できます
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【分析事例】積層セラミックコンデンサ(MLCC)加熱SSRM評価
誘電体内の伝導パス(絶縁劣化箇所)の可視化
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全光線透過率測定、全光線反射率測定
積分球を用いることで表面凹凸や厚みがあるサンプルも測定可能です
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【分析事例】発光寿命測定によるキャリアライフタイム評価
発光寿命からSiCのキャリアライフタイムについて知見が得られます
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【分析事例】半導体パッケージのはんだ濡れ性試験
劣化加速試験後の電極のはんだ濡れ性試験が可能です。
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【分析事例】リチウムイオン電池電解液中のフッ化物イオン濃度評価
NMRを用いてフッ化物イオンの定量分析が可能です。
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【分析事例】GaN基板の表面形状分析
AFMによるステップ-テラス構造の可視化
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信頼性試験の一覧
信頼性試験（Reliability Test）
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HAXPESによるオージェピークの重複を回避した評価
Ga線（HAXPES）およびAl線・Mg線（XPS）測定によるスペクトル比較
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【分析事例】ポリイミドのイミド化反応評価
加熱条件の違いによるイミド化の進行度合いをXPSで評価できます
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【分析事例】UV硬化樹脂の組成解析
ソフトイオン化法との併用で同定能力が向上します
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【分析事例】樹脂(合成高分子)の定性・構造解析
FT-IRと熱分解GC/MSの複合解析により分子構造の知見が得られます
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【分析事例】FT-IRによるUV硬化樹脂の硬化度評価
官能基の変化を捉えることでUV硬化樹脂の硬化度を評価可能です
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【分析事例】XPSによる結合状態マッピング
mmオーダーで試料表面の汚染、表面処理等の分布評価が可能です
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【分析事例】XPSによる広域定量マッピング
最大70×70mm領域の組成分布評価が可能です
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【分析事例】XPSによるSn表面の状態評価
価数別（2価、4価）の割合を算出することが可能です
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【分析事例】斜め加工を用いたMLCCの不純物評価 MLCC
斜め加工を用いたセラミックス層の不純物分布評価
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