【分析事例】斜め加工を用いたMLCCの不純物評価
斜め加工を用いたセラミックス層の不純物分布評価
基本情報
測定法：IP・TOF-SIMS 製品分野：電子部品 分析目的：不純物評価・分布評価
価格帯
納期
用途／実績例
電子部品の分析です。
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取り扱い会社
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