はんだ選定における清浄度評価｜C3・イオンクロマトグラフィー分析
海外・日本統一条件で評価データを取得！はんだ選定における清浄度評価｜C3・イオンクロマトグラフィー分析の事例
新規製品に使用するはんだの選定に伴い、海外拠点と連携して日本・海外で条件を統一した評価データを取得し、検出成分の要因分析まで行った事例を紹介します。 当事例では、ROSE Test等に代表される基板全体の抽出評価による分析とは異なり、評価領域を限定した局所的な分析を行いました。また、2つの分析方法を併用することで、イオン汚染や腐食性を有する残渣の程度に加え、影響を及ぼすイオン種の同定が可能となり、基板上の懸念度が高い領域を特定することができます。 【課題】 ■新規製品に使用するはんだの選定にあたり、納品先よりC3/IC分析の実施を要求された ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
【仕様・スペック】 ■分析の種類：C3、イオンクロマトグラフィー ■使用した分析装置：Foresite C3 Tester Thermo Fisher Dionex Integrion HPIC ■測定対象：プリント基板(PCB) ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
用途／実績例
※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
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取り扱い会社
ゼストロンはドイツ本社を拠点に世界8拠点を展開する、グローバル基準の『フラックス洗浄剤メーカー』です。 弊社洗浄剤は、高い洗浄性を持ちながらも、有機溶剤・VOCの削減、また使用量低減によるコスト削減を可能とする、 洗浄性と安全性を両立した地球環境に優しい水系洗浄剤を主力としています。 神奈川のテクニカルセンターでは、インライン・バッチ式のスプレー洗浄装置 や噴流、超音波装置の中からお客様のご希望に沿った装置をお選びいただき、 生産現場と同等条件のもとワーク洗浄をお試し頂けます。 また、洗浄テストと並行しながら分析センターにて清浄度を分析いたします。 デジタル顕微鏡、FT-IR、イオンクロマトグラフィー、SEM-EDX/EDSなどを駆使し 外観のみでは見逃しやすいフラックス残渣の検知も可能です。 テスト終了後には、推奨プロセスなどの詳細を記載したテクニカルレポートを、エンジニアより提出させて頂きます。 ※弊社は洗浄工程の問題に対するサポート対応を基本的には無償で行っております。 フラックス洗浄に関するご要望・課題がございましたら、ぜひお問い合わせ下さい。