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促進耐候性試験（サンシャイン／キセノンウェザーメーター試験）
電気的特性試験にて不良現象を再現させるお手伝いをさせて頂きます！
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非破壊解析・非破壊検査（ロックインサーモグラフィ、超音波探傷）
ロックイン赤外線発熱解析、3D-X線透視解析、超音波探査（SAT）等から最適な非破壊解析を選択し、異常箇所を絞込みます。
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ストレージ品評価解析（HDD・SSD・フラッシュメモリなど）
HDD・SSD・フラッシュメモリなどの評価、データ復旧、特性評価を受託します
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電子機器の加速劣化試験サービス
製品に適した加速劣化試験を“具現化”して提案・実施！加速劣化試験はお任せください
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破壊解析（材料分析、破面解析、FIB、TEMほか）
電子部品の故障解析、材料分析による故障個所の観察・分析を行います。
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破壊解析 | パッケージ開封（デキャップ）
IC,半導体の故障解析に欠かせない、デキャップ（樹脂開封、パッケージ開封）にお困りではありませんか？
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ユーロフィンFQL株式会社｜事業案内
信頼性評価・環境試験、故障解析、品質関連システム・プロセス構築・改善支援、品質関連教育等、スペシャリストが品質保証の課題を解決！
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材料分析
材料由来の不具合の原因分析、材料開発。ナノレベルの構造／表面分析によりサポートします
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腐食環境診断／対策
腐食にかかわる設備管理・品質問題を、腐食環境、耐腐食性の二つの観点から改善サポート！
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電子機器・電子部品の故障解析
故障・不具合発生メカニズム調査から改善策の提案・効果検証まで、専門エンジニアがトータルサポート！
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信頼性評価試験／環境試験
規格に準拠した試験から寿命限界試験までご要望に合わせた多種多様な試験に対応！
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