HDD、SSD、フラッシュメモリ
HDD、SSD、フラッシュメモリ
想定される故障モードから適切な信頼性評価・試験内容を抽出しご提案します。故障解析も承ります。 ・環境試験(温度/湿度/気圧) ・熱衝撃試験 ・長期ランニング試験 ・分解調査 ・振動試験 ・ガス腐食試験 ・エンデュランス（データ書換）／リテンション（データ保持）試験 ・X線照射試験
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信頼性評価試験／環境試験
規格に準拠した試験から寿命限界試験までご要望に合わせた多種多様な試験に対応！
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HDD | 機種選定・信頼性評価・故障解析をサポートします
機種選定・信頼性評価・故障解析など、お客様のお困りごとをサポート致します。
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技術資料集｜信頼性評価・安全性評価・故障解析・分析
信頼性評価・安全性評価・故障解析・分析の技術資料を掲載しています！
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破壊解析（材料分析、破面解析、FIB、TEMほか）
電子部品の故障解析、材料分析による故障個所の観察・分析を行います。
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非破壊解析・非破壊検査（ロックインサーモグラフィ、超音波探傷）
ロックイン赤外線発熱解析、3D-X線透視解析、超音波探査（SAT）等から最適な非破壊解析を選択し、異常箇所を絞込みます。
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SSD | 機種選定・信頼性評価・故障解析をサポートします
機種選定・信頼性評価・故障解析など、お客様のお困りごとをサポート致します。
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フラッシュメモリ | 電気的特性確認
電気的特性試験にて不良現象を再現させるお手伝いをさせて頂きます
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