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蛍光X線式測定装置FISCHERSCOPE X-RAY XDLM
FISCHERのFR法により、より簡単に膜厚測定と素材分析が可能! ※JPCA Show(国際電子回路産業展) に出展します
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フェライト組織量の測定器 フェライトスコープDMP30
Basler-StandardとDIN EN ISO17655に準拠
最終更新日
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蛍光X線式貴金属分析器「GOLDSCOPE SD 510」
貴金属買い取りに最適
最終更新日
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SR-SCOPE DMP30 電気抵抗式膜厚測定器
裏面や内層材の影響を受けずに銅の膜厚を測定
最終更新日
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電磁式・渦電流式の小型膜厚計『DUALSCOPE DMP40』
上位モデルのデュアル式(電磁式・渦電流式)ハンディー型膜厚測定器、様々な測定プローブにより高精度かつ様々な形状に対応
最終更新日
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電磁式・渦電流式の小型膜厚計『DUALSCOPE DMP20』
精度の高い膜厚測定ができるべーシックなエントリーモデルのデュアル式(電磁・渦電流式)小型膜厚計
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電磁式の小型膜厚計『DELTASCOPE DMP30』
上位モデルの電磁式ハンディー型膜厚計、広範にラインナップした測定プローブにより高精度かつ様々な形状の測定サンプルに対応
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電磁式の小型膜厚計『DELTASCOPE DMP10』
精度の高い膜厚測定ができるべーシックなエントリーモデルの電磁式膜厚計
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渦電流式の小型膜厚計『ISOSCOPE DMP30』
上位モデルの渦電流式ハンディー型膜厚計、広範にラインナップした測定プローブにより高精度かつ様々な形状の測定サンプルに対応
最終更新日
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渦電流式の小型膜厚計『ISOSCOPE DMP10』
精度の高い膜厚測定ができるべーシックなエントリーモデルの渦電流式膜厚計
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【展示会出展製品】ハンディータイプ小型膜厚計 『DMPシリーズ』
頑丈なアルミ製筐体で高機能・高精度なハンディー型膜厚計:様々な金属を下地とする数多くの皮膜厚を測定
最終更新日
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蛍光X線式測定器『X-RAY XDV-μ LD』
新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)搭載の新型モデル!プリント回路基板やコネクターの複雑形状を短時間で測定が可能
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ハイエンドな蛍光X線測定器『X-RAY XDV-μ』
新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)搭載の新型モデル!薄膜・多層メッキを短時間で測定!
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蛍光X線式膜厚測定・分析器『X-RAY XDV-SDD』
新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)搭載の新型モデル!高性能で万能型。研究開発、工程解析、実験室などに好適!
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『膜厚計の基礎知識 膜厚測定で知っておくべきこと』技術資料!
【膜厚測定で知っておくべきこと】無料進呈中!電磁・渦電流式膜厚計で測定する際、影響を与える重要な要素を知り正しく測定しましょう!
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電磁式・渦電流式の小型膜厚計『DUALSCOPE FMP40』
上位モデルのデュアル式(電磁式・渦電流式)ハンディー型膜厚測定器、様々な測定プローブにより高精度かつ様々な形状に対応
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電磁式/渦電流式 デュアルスコープ MP0R-FP-BT
持ち運びに便利なポケットサイズで、Bluetooth搭載のデュアル式小型膜厚計(電磁式/渦電流式 両用膜厚計)
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電磁式/渦電流式 デュアルスコープ MP0R-BTA
持ち運びに便利なポケットサイズで機能制限した簡易型で、Bluetooth搭載のデュアル式小型膜厚計
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デュアルスコープ MP0R-BTA&MP0R-FP-BT
持ち運びに便利なポケットサイズで、Bluetooth搭載のデュアル式小型膜厚計(電磁式/渦電流式 両用膜厚計)
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蛍光X線測定装置『X-RAY XULM』
コンパクトで測定サンプルセッティングが簡単な蛍光X線測定装置
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インライン測定システム『X-RAY 5000』
大きな測定エリアを持つ量産品の薄膜測定や合金分析を連続して行うシステム!
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蛍光X線測定器『X-RAY 4000シリーズ』
量産工程に組み込む測定オートメーションシステム
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蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ WAFER』
ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別設計された蛍光X線式測定器!
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蛍光X線式測定装置『X-RAY XDLM 237』
電子部品やさまざまな形状のメッキ加工品などの膜厚測定や素材分析が可能です。
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高性能導電率計『SIGMASCOPE SMP350』
非鉄金属素地の導電率を非接触で測定!広範な種類の測定アプリケーションに有効【原材料の分別や材質検査などに】
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携帯式膜厚計『PHASCOPE PMP10 DUPLEX』
塗装と亜鉛層それぞれの厚みが一回の測定で得られる膜厚計【船舶・橋梁などの膜厚管理や検査に】
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電磁式小型膜厚計『PERMASCOPE MP0R』
持ち運びが便利なポケットサイズ!磁性金属上の非磁性皮膜を測定!【船舶・橋梁・建築物等の鉄素地上の塗膜やメッキの膜厚測定に】
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『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ PCB』
集光レンズタイプの蛍光X線式測定器!回路基板や微細構造部分の分析・測定に特別設計されたモデル!
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蛍光X線式測定器の自動化システム『XDV-μ SEMI』
お客様に合わせたカスタマイズが可能!クリーンルーム環境にも適用します!
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蛍光X線式測定器『XDLシリーズ』
簡単に膜厚測定と素材分析ができる汎用性の高い膜厚測定・素材分析装置です。
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