【分析事例】LSI・メモリ
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【分析事例】LSI・メモリ
LSI・メモリの分析事例をご紹介します
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【分析事例】Cu表面のXPSによる酸化状態評価
Cuスペクトルの成分分離、定量、膜厚算出
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分子動力学計算によるカーボンナノチューブ曲げ変形シミュレーション
ナノ材料に外力を加えた時の形状変化、歪みエネルギーの評価が可能
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【分析事例】撥水箇所の成分分析
TOF-SIMSは複数成分の広域イメージング評価が可能です
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EV関連分析事例
分析でEV開発のEVolutionを!
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【分析事例】発光寿命測定によるキャリアライフタイム評価
発光寿命からSiCのキャリアライフタイムについて知見が得られます
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【分析事例】半導体パッケージのはんだ濡れ性試験_C0699
劣化加速試験後の電極のはんだ濡れ性試験が可能です。
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SIMS分析データの再現性
再現性の高い不純物量評価が可能です
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