各種デバイス、素子向け『ウエハーレベル バーンイン』

完全なハードウェアで各回路を保護！最大20枚のウエハーの同時バーンインに対応

最終更新日 2025年01月31日

『バーンイン装置』（デバイス、チップ、素子向け）

生産効率大幅アップ！治具ごとに自由にバーンイン条件を設定でき、研究開発にも便利

最終更新日 2024年01月19日

パルスソースメータ

パルス電流源/測定及び高圧半導体用パルス源2モデル

最終更新日 2023年12月17日

3500V高圧ソースメータ

±3500V高圧ソースメータ

最終更新日 2024年09月19日

高精度卓上ソースメータ

最高分解能1fA/1uV高精度卓上ソースメータ5モデル

最終更新日 2023年12月17日

標準卓上ソースメータ

シングルチャンネル及びダブルチャンネル2モデル

最終更新日 2023年12月17日

PXIe高精度ソースメータ

高精度4象限ソース及び測定

最終更新日 2024年05月24日

パワーデバイス『KGD』

フルテストをローコストで！プローブの密閉構造により、プレスの安全性と信頼性を確保

最終更新日 2023年04月25日

パワーデバイス『ウエハーレベル バーンイン』

完全なハードウェアで各回路を保護！最大6枚のウエハーの同時バーンインに対応

最終更新日 2025年01月31日

検査設備『ハイパワーLD（レーザーダイオード）COCテスター』

ハイパワーLD（レーザーダイオード）向けの全自動COC検査設備！

最終更新日 2023年07月31日

ハイパワーLD バーンイン設備

単層ごとに独立した制御が可能！水冷システム＋TECにで高出力レーザーを放熱

最終更新日 2023年07月28日

検査設備『LD（レーザーダイオード）チップテスター』

2pcsのLDチップを違う温度条件で同時に検査！DFB、EML、EML＋SOA等のLDチップに対応した検査設備

最終更新日 2023年07月31日

LD（レーザーダイオード）COC検査装置

検査治具はバーンインシステムと共用！検査直行率と検査安定性が大幅アップ

最終更新日 2023年07月31日

『LD（レーザーダイオード）COCバーンイン装置』

生産効率大幅アップ！治具ごとに自由にバーンイン条件を設定でき、研究開発にも便利

最終更新日 2023年07月31日