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『SEMICON JAPAN 2025』出展のお知らせ
CPO向けテストソリューションや半導体 WAT/信頼性評価ソリューションがポイント！
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高速波長計 FWM8612
1kHz超高速、リアルタイム波長モニタリング
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Semight 1.6T次世代光通信テストソリューション＜出展＞
次世代光通信評価をご担当の皆様へ 業界ニーズに応える先端テストソリューションをご紹介します！COMNEXT2025出展のご案内
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高精度ソースメジャーユニット（卓上型）S2035H
±200V×1fA×1Msps。1台で測る、開発と評価のすべて
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ウェハ受入れテストシステム WAT6600
1pAの精度で、48ピン同時測定。並列測定でスループット最大化
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SiC KGDダイハンドラー PB6800
4000UPHで圧倒的な量産対応。動・静・高温、すべて自動で。
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PXIe ソースメジャーユニット（SMU） S2019C
4チャネル・高分解能・高速サンプリング——多様なデバイス・アプリケーションに対応するPXIe SMU
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レーザーダイオードバーンインシステム
4224ch同時バーンイン、LD信頼性試験を極限まで効率化
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LDチップ対応 常温・高温ダイテスターCT8201
LIV・EA・スペクトルまで一台対応——完全自動、超高効率テスター、量産に不可欠
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シリコンフォトニクス・ウェハーテストシステムsCT9002
シリコンフォトニクスの量産スクリーニングに最適化されたスマートテストシステム
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1.6T ビットエラーレートテスター PBT3058
1.6T光モジュールからCPO・SiPhまで、BERT評価のすべてをこれ一台で。
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120GBd 高速クロックリカバリユニット CR3302
120GBd対応クロック抽出――次世代PAM4/NRZ測定の必須パートナー
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サンプリング・オシロスコープ DCA1065
Semight DCA1065 サンプリング・オシロスコープ —— 1.6T光モジュールの試験ニーズに完全対応！
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高電圧半導体パルス発生ユニット
±40V／1000V/μsの鋭いエッジを生成し、NVM・MEMS・中出力デバイス試験に対応！PXIe対応の高電圧パルス源ユニッ
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多結晶超高熱伝導ダイヤモンド基板
⾼出力エレクトロニクス、レーザー冷却、放熱管理などに
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単結晶超高熱伝導ダイヤモンド基板
最高級熱伝導
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多結晶超高熱伝導光学グレードダイヤモンド基板
多結晶超高熱伝導光学グレードウェハー/シート
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多結晶超高熱伝導光学グレードダイヤモンド基板
レーザー出力ウィンドウ等に最適
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各種デバイス、素子向け『ウエハーレベル バーンイン』
完全なハードウェアで各回路を保護！最大20枚のウエハーの同時バーンインに対応
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『バーンイン装置』（デバイス、チップ、素子向け）
生産効率大幅アップ！治具ごとに自由にバーンイン条件を設定でき、研究開発にも便利
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パルス電流対応SMU
パルス電流源/測定及び高圧半導体用パルス源2モデル
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3500V高電圧ソースメジャーユニットS3030F
±3500V、10fA分解能――超高電圧でも安定測定、パワーデバイスやSic・GaN複合材料評価に最適
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高分解能ソース・メジャー・ユニットシリーズ
1fA/1μVから高精度 × 多チャンネル × 高速応答 — 研究・量産に最適な一台
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標準卓上ソースメータ
シングルチャンネル及びダブルチャンネル2モデル
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PXIe高精度ソース・メジャー・ユニット（SMU）
PXIe対応高精度ソースメジャーユニット（SMU）モジュールシリーズ｜Semight Instruments
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パワーデバイス『KGD』
フルテストをローコストで！プローブの密閉構造により、プレスの安全性と信頼性を確保
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パワーデバイス『ウエハーレベル バーンイン』
完全なハードウェアで各回路を保護！最大6枚のウエハーの同時バーンインに対応
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検査設備『ハイパワーLD（レーザーダイオード）COCテスター』
ハイパワーLD（レーザーダイオード）向けの全自動COC検査設備！
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ハイパワーLD バーンイン設備
単層ごとに独立した制御が可能！水冷システム＋TECにで高出力レーザーを放熱
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検査設備『LD（レーザーダイオード）チップテスター』
2pcsのLDチップを違う温度条件で同時に検査！DFB、EML、EML＋SOA等のLDチップに対応した検査設備
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