FWM8612 高速波長計

1kHz超高速、リアルタイム波長モニタリング

最終更新日 2025年07月17日

Semight 1.6T次世代光通信テストソリューション＜出展＞

次世代光通信評価をご担当の皆様へ 業界ニーズに応える先端テストソリューションをご紹介します！COMNEXT2025出展のご案内

最終更新日 2025年07月23日

S2035H 高精度ソースメジャーユニット（卓上型）

±200V×1fA×1Msps。1台で測る、開発と評価のすべて

最終更新日 2025年07月15日

WAT6600　ウエハ・アクセプタンス・テスト

1pAの精度で、48ピン同時測定。並列測定でスループット最大化

最終更新日 2025年07月17日

PB6800 SiC KGDダイハンドラー

4000UPHで圧倒的な量産対応。動・静・高温、すべて自動で。

最終更新日 2025年07月15日

S2019C　PXIe ソースメジャーユニット（SMU）

4チャネル・高分解能・高速サンプリング——多様なデバイス・アプリケーションに対応するPXIe SMU

最終更新日 2025年07月15日

BI6201 – レーザーダイオードバーンインシステム

4224ch同時バーンイン、LD信頼性試験を極限まで効率化

最終更新日 2025年07月14日

CT8201 LDチップ対応 常温・高温ダイテスター

LIV・EA・スペクトルまで一台対応——完全自動、超高効率テスター、量産に不可欠

最終更新日 2025年07月14日

sCT9002 シリコンフォトニクス・ウェハーテストシステム

シリコンフォトニクスの量産スクリーニングに最適化されたスマートテストシステム

最終更新日 2025年07月14日

PBT3058　1.6T ビットエラーレートテスター

1.6T光モジュールからCPO・SiPhまで、BERT評価のすべてをこれ一台で。

最終更新日 2025年07月15日

CR3302　120GBd 高速クロックリカバリユニット

120GBd対応クロック抽出――次世代PAM4/NRZ測定の必須パートナー

最終更新日 2025年07月12日

DCA1065 サンプリング・オシロスコープ

Semight DCA1065 サンプリング・オシロスコープ —— 1.6T光モジュールの試験ニーズに完全対応！

最終更新日 2025年07月12日

高電圧半導体パルス発生ユニット

±40V／1000V/μsの鋭いエッジを生成し、NVM・MEMS・中出力デバイス試験に対応！PXIe対応の高電圧パルス源ユニッ

最終更新日 2025年07月07日

多結晶超高熱伝導ダイヤモンド基板

⾼出力エレクトロニクス、レーザー冷却、放熱管理などに

最終更新日 2025年02月14日

単結晶超高熱伝導ダイヤモンド基板

最高級熱伝導

最終更新日 2025年02月14日

多結晶超高熱伝導光学グレードダイヤモンド基板

多結晶超高熱伝導光学グレードウェハー/シート

最終更新日 2025年02月14日

多結晶超高熱伝導光学グレードダイヤモンド基板

レーザー出力ウィンドウ等に最適

最終更新日 2025年02月14日

各種デバイス、素子向け『ウエハーレベル バーンイン』

完全なハードウェアで各回路を保護！最大20枚のウエハーの同時バーンインに対応

最終更新日 2025年02月12日

『バーンイン装置』（デバイス、チップ、素子向け）

生産効率大幅アップ！治具ごとに自由にバーンイン条件を設定でき、研究開発にも便利

最終更新日 2025年02月12日

パルス電流対応SMU

パルス電流源/測定及び高圧半導体用パルス源2モデル

最終更新日 2025年07月07日

S3030F 3500V高電圧ソースメジャーユニット

±3500V、10fA分解能――超高電圧でも安定測定、パワーデバイスやSic・GaN複合材料評価に最適

最終更新日 2025年07月13日

高分解能ソース・メジャー・ユニットシリーズ

1fA/1μVから高精度 × 多チャンネル × 高速応答 — 研究・量産に最適な一台

最終更新日 2025年07月08日

標準卓上ソースメータ

シングルチャンネル及びダブルチャンネル2モデル

最終更新日 2023年12月17日

PXIe高精度ソース・メジャー・ユニット（SMU）

PXIe対応高精度ソースメジャーユニット（SMU）モジュールシリーズ｜Semight Instruments

最終更新日 2025年07月15日

パワーデバイス『KGD』

フルテストをローコストで！プローブの密閉構造により、プレスの安全性と信頼性を確保

最終更新日 2025年02月12日

パワーデバイス『ウエハーレベル バーンイン』

完全なハードウェアで各回路を保護！最大6枚のウエハーの同時バーンインに対応

最終更新日 2025年02月12日

検査設備『ハイパワーLD（レーザーダイオード）COCテスター』

ハイパワーLD（レーザーダイオード）向けの全自動COC検査設備！

最終更新日 2023年07月31日

ハイパワーLD バーンイン設備

単層ごとに独立した制御が可能！水冷システム＋TECにで高出力レーザーを放熱

最終更新日 2023年07月28日

検査設備『LD（レーザーダイオード）チップテスター』

2pcsのLDチップを違う温度条件で同時に検査！DFB、EML、EML＋SOA等のLDチップに対応した検査設備

最終更新日 2025年02月12日

LD（レーザーダイオード）COC検査装置

検査治具はバーンインシステムと共用！検査直行率と検査安定性が大幅アップ

最終更新日 2023年07月31日