最大800µm長ストローク対物フォーカス P-725.xCDE2
サブナノの分解能をもち、最大800 µm動作、高速・高精度PIFOC(R)フォーカススキャナ
基本情報
・ストローク：100µm、400µm、800µm ・静電容量センサー内蔵 ・高剛性によりハイダイナミクス動作にも最適 ・ケーブルの柔軟性 ・幅広い設置方法 ※詳しくはPDFをダウンロード、もしくはお問合せください。
価格帯
納期
型番・ブランド名
P-725.xCDE2
用途／実績例
・各種顕微鏡（共焦点、ライトシート、超解像度、2光子など） ・3Dイメージング ・スクリーニング ・干渉計測機 ・高精度測定 ・オートフォーカスシステム ・バイオテクノロジー ・半導体検査など
関連動画
ラインアップ（3）
| 型番 | 概要 |
|---|---|
| P-725.1CDE2 | PIFOC piezo nanofocusing system for long travel ranges and fast step-and-settle, 100 µm, capacitive sensors, D-sub connectors |
| P-725.4CDE2 | PIFOC piezo nanofocusing system for long travel ranges and fast step-and-settle, 400 µm, capacitive sensors, D-sub connectors |
| P-725.8CDE2 | PIFOC piezo nanofocusing system for long travel ranges and fast step-and-settle, 800 µm, capacitive sensors, D-sub connectors |
カタログ（2）
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取り扱い会社
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