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【分析事例】ZnO膜表面の形状観察

広域の表面形状観察が可能

走査型白色干渉計(光干渉計)は、試料の表面形状を「高い垂直(Z)分解能(0.1nm)と広い(X-Y)測定視野(50μm~4.2mm)」で高精度に、非接触3次元測定を行うことが可能です。4.2mm×4.2mmの視野まで測定可能です。

関連リンク - http://www.mst.or.jp/

基本情報

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価格情報

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納期

用途/実績例

電子部品の分析です

取り扱い会社

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