無アルカリガラス中の金属不純物の定性と定量評価
TOF-SIMS、D-SIMS：二次イオン質量分析法
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酸化物半導体、LSI・メモリ、電子部品、製造装置・部品に用いられる分析手法です。
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MSTは受託分析サービスをご提供する財団法人です。 TEM・SIMS・XRDなど、さまざまな分析装置を保有し、分析ニーズに応えます。 知識豊富な営業担当が、適切な分析プランをご提案。貴社に伺ってのご相談も、もちろん可能です。 ISO9001・ISO27001取得。 製品開発・不良原因の解明・特許調査はぜひご相談ください！ MSTは、あなたの「困った！」を解決へと導きます。
