半導体から皮膚・毛髪まで！多様な分野で活用可能“表面分析”事例集
研究開発・品質管理に使える高感度な成分分析
TOF-SIMS分析（飛行時間型二次イオン質量分析法）は、試料表面の成分分析を行う手法です。 最表面に存在する有機物・無機物の同定に適しており、イメージング測定によって成分の面内分布を視覚的に把握することができます。 特に異物や変色・洗浄残渣など不良原因の特定に有効です。 さらに、掘りながら測定することで、深さ方向の分布も確認可能です。
基本情報
測定法：TOF-SIMS 製品分野：生体、有機材料、金属・無機材料、電池 分析目的：汚染評価、異物評価
価格帯
納期
用途／実績例
半導体、電池、生体材料、有機材料など多様な分野の分析です。 詳しくは、お問い合わせください。
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