シリンダー内面外観装置
目視検査では不可能な定量化や見逃し欠陥を確実に検査いたします。検査時間を大幅に削減する全自動検査装置
『シリンダー内面外観装置』は、目視検査では困難な定量化や見逃し欠陥の確実な検査を実現する円筒内面自動検査装置です。 カメラがXY移動し、画像記録のほか任意のしきい値設定から欠陥に対してOK/NG判別を全自動で行います。スクラッチ（傷）、異物、カケなどの外観検査に対応し、検査時間を1/10程度に短縮。ローダー、アンローダー付きのインラインにも対応いたします。 【特長】 ■スクラッチ（傷）、異物、カケの外観検査を全自動化 ■任意のしきい値設定によるOK/NG判別 ■検査時間を1/10程度に短縮 ■ローダー、アンローダー付きのインライン対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
【仕様】 ■検査可能シリンダー最小径：35mmφ ■画素分解能：10μ/画素 ■検査時間：30秒から2分程度（シリンダーサイズによる） ■検査項目：加工痕、傷、鋳巣など ■特殊高輝度照明BOX ■自動アライメント機構 ■検査測定ソフトウエアー：64ビットの高速並列処理 ■画像処理用パソコン：DELL Optiplexなど ■X,Y軸移動ステージ付き ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
用途／実績例
【用途】 ■シリンダーなどの円筒物の内面自動検査 ■スクラッチ（傷）、異物、カケ、加工痕、鋳巣などの外観検査 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
カタログ（1）
カタログをまとめてダウンロード
おすすめ製品
取り扱い会社
弊社は1986年の会社創設以来、長らく日本の最先端の技術を支える半導体付帯事業を展開してまいりました。ハード面 ではクリーンルームをはじめとする、工事製造環境の整備。また、人的要素では半導体技術者の育成ならびにお客様のニーズに即応できるサービス体制の確立に主眼をおいてまいりました。そして昨年は、SEMICON Japanに初出展を果たし多くの 業界関係者と直接触れ合うことで、今何を必要とされているのか、いかなるサービスを創出すべきなのかを改めて学ぶことができました。また、同時に社内の志気も高まっきており積極的な営業活動を実施しております。日本経済の景気もようやく上昇志向となってきたと言われております。しかし、半導体業界だけを見ても海外メーカーの進出、技術力、サービスの向上は著しいものとなっておりますので国際競争力を高めることを念頭に営業展開をしていきたいと考えております。国内はもとより、グローバル化時代に対応して北米とアジアを結ぶ拠点として我が日本そして、空港アクセスに優れている当社の担う役割はさらに高まっていきます。