針先端部検査装置
検査後の商品は確かな品質保証が可能！インラインで24時間の全自動化を実現する高精度測定装置
当装置は、検査後の品質保証を可能にする自動測定装置です。 非接触測定が可能で刃先を傷つけず、測定者の技量に依存すること無く接触圧・測定角度・視差が出ません。任意の測定回転角度や測定サンプリング数が自由に設定でき、より高精度の測定が可能です。また、測定速度も速くインラインでの24時間全自動化が容易に構築でき、刃物扱いによるケガのリスクを解消します。結果の自動データ保存や良品/不良の自動判定、不良発生時のアラート出力も可能です。 【特長】 ■非接触測定が可能で刃先を傷つけない ■測定者の技量に依存せず測定精度が一定 ■任意の測定回転角度、測定サンプリング数が自由に設定可能 ■結果の自動データ保存・自動判定（良品/不良）が可能 ■不良発生時の自動アラート出力が可能 ■インラインの24時間全自動化が容易に構築可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
【構成】 ■ワーク保持用治具 ■工具筐体 ■回転機構 ■電動Y軸ステージ（ストローク50mm） ■電動位置決めコントローラ ■カメラ照明台 ■測定開始ボタン、緊急停止ボタン ■PC、モニター ■カメラ：CMOSカメラ2500万画素 ■レンズ：テレセントリック倍率0.5倍 ■照明：LED面照明（視野角調整可） ■照明電源：PCによるUSB制御 ■視野サイズ：約25.6mm×25.6mm ■画像合成機能：Y軸及び回転 ■画素分解能：約5μ/画素 ■CAD比較検査（オプション） ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
用途／実績例
【用途】 ■工業用、医療用などの針の先端形状測定 ・針先端ネック部の寸法測定 ・針全体の曲がり ・針先端部の突起物（カエリ） ・異物検査 ・汚れ検査 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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取り扱い会社
弊社は1986年の会社創設以来、長らく日本の最先端の技術を支える半導体付帯事業を展開してまいりました。ハード面 ではクリーンルームをはじめとする、工事製造環境の整備。また、人的要素では半導体技術者の育成ならびにお客様のニーズに即応できるサービス体制の確立に主眼をおいてまいりました。そして昨年は、SEMICON Japanに初出展を果たし多くの 業界関係者と直接触れ合うことで、今何を必要とされているのか、いかなるサービスを創出すべきなのかを改めて学ぶことができました。また、同時に社内の志気も高まっきており積極的な営業活動を実施しております。日本経済の景気もようやく上昇志向となってきたと言われております。しかし、半導体業界だけを見ても海外メーカーの進出、技術力、サービスの向上は著しいものとなっておりますので国際競争力を高めることを念頭に営業展開をしていきたいと考えております。国内はもとより、グローバル化時代に対応して北米とアジアを結ぶ拠点として我が日本そして、空港アクセスに優れている当社の担う役割はさらに高まっていきます。