裏面クラック検査装置
測定精度が一定で測定者の技量に依存しません。連続運転で安定した検査品質を実現
『裏面クラック検査装置』は、インラインの24時間全自動化が容易に構築できるセラミック基板用の自動検査装置です。 人の目では見つけにくい微細なクラックを、2方向特殊照明による画像処理で検出いたします。非接触検査測定が可能なためワークを傷つけず、測定速度も速い点がメリットです。結果は自動でデータ保存および良品・不良の自動判定が行われ、不良発生時のアラート出力にも対応。検査後の商品は品質保証が可能になります。任意のタクトタイムやご希望の検査精度で装置構築が可能です。 【特長】 ■2方向特殊照明と画像処理による微細なクラックの検出 ■ワークを傷つけない非接触検査測定 ■結果の自動データ保存・自動判定（良品/不良） ■不良発生時の自動アラート出力 ■任意のタクトタイム・検査精度での構築が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
【仕様】 ■カメラ：2500万画素 CMOSカメラ ■レンズ：高精度FA用レンズ ■照明方式：2方向ライン照明および同軸照明 ■照明電源：PCによるUSB制御 ■視野サイズ：約58mm×58mm ■タクトタイム：1視野1秒以下 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
用途／実績例
【用途】 ■セラミック基板裏面のクラック自動検査 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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取り扱い会社
弊社は1986年の会社創設以来、長らく日本の最先端の技術を支える半導体付帯事業を展開してまいりました。ハード面 ではクリーンルームをはじめとする、工事製造環境の整備。また、人的要素では半導体技術者の育成ならびにお客様のニーズに即応できるサービス体制の確立に主眼をおいてまいりました。そして昨年は、SEMICON Japanに初出展を果たし多くの 業界関係者と直接触れ合うことで、今何を必要とされているのか、いかなるサービスを創出すべきなのかを改めて学ぶことができました。また、同時に社内の志気も高まっきており積極的な営業活動を実施しております。日本経済の景気もようやく上昇志向となってきたと言われております。しかし、半導体業界だけを見ても海外メーカーの進出、技術力、サービスの向上は著しいものとなっておりますので国際競争力を高めることを念頭に営業展開をしていきたいと考えております。国内はもとより、グローバル化時代に対応して北米とアジアを結ぶ拠点として我が日本そして、空港アクセスに優れている当社の担う役割はさらに高まっていきます。