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【分析事例】アルミホイル表面の成分分析
光沢面・つやなし面の違いを評価
最終更新日
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【分析事例】エタノールをつけた綿棒の残渣分析
TOF-SIMSにより光学顕微鏡で見えないシミや洗浄残渣の分析が可能
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【分析事例】有機EL素子の層構造評価（C0088）
N2雰囲気下での切削加工で酸化劣化を防止
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【分析事例】有機EL発光層の成分分析
雰囲気を保ったまま解体・前処理から装置導入まで可能
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【分析事例】有機EL素子の劣化評価
雰囲気制御下での切削により加工による変質を抑制
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【分析事例】SCM・SMMによるSiCMOSFETの拡散層評価
SiCデバイスの拡散層のp/n極性とキャリア濃度分布を評価できます
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【分析事例】近赤外VCSELのSMMによるキャリア分布評価
実装品の解体・加工から拡散層の計測までを一貫して行えます
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【分析事例】TDSによるSiN膜の昇温脱離ガス分析
薄膜の表面吸着ガス、膜中からの脱離ガスを評価可能
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【分析事例】TOF-SIMSによるニッケルめっき剥離面の評価
めっきの剥がれ、密着不良をTOF-SIMS分析で原因調査
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イオン化法ESI・APCIによる検出成分の違い
LC/MS：液体クロマトグラフィー質量分析法
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【分析事例】高分子材料の添加剤評価
LC/MSによる成分の定性
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【分析事例】溶解再沈法による高分子材料の添加剤評価
LC/MS・LC/MS/MSによる成分の定性
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【分析事例】粉体異物の定性分析
手法を組み合わせることで、複数種類の成分情報を得ることが可能です
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【分析事例】ABF-STEM観察によるGaNの極性評価
Csコレクタ付STEMにより原子レベルでの観察が可能です
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【分析事例】高電子移動度トランジスタの評価
Csコレクタ付STEMにより結晶整合性および組成分布の評価が可能
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【分析事例】MSDMによる有機ELデバイスの評価
質量スペクトルを可視化することで、より高精度な解析が可能です
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【分析事例】固体高分子燃料電池電解質膜の劣化調査
LC/MS・ICによる劣化溶出成分の評価
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MSDMについて
TOF-SIMS：飛行時間型二次イオン質量分析法
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【分析事例】MSDMによる有機ELデバイスの劣化解析
質量スペクトルを可視化することで、より高精度な解析が可能です
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【分析事例】染料・顔料を塗布した紙の分析
TOF-SIMSにより染料・顔料由来の分子情報の可視化が可能
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ウエハ最表面の微量元素分析における前処理法
ICP-MS：誘導結合プラズマ質量分析法
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【分析事例】GCによる窒素化合物の高感度分析
GC/MS/NPD（窒素リン検出器）を用いた窒素化合物の分析
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【分析事例】SIMSによるSiC中不純物の超高感度測定
ppb～pptレベルのバルク濃度を評価します
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【分析事例】SIMSによる酸化ガリウムGa2O3膜不純物濃度評価
不純物元素の定量評価が可能です
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SiGe中不純物の高精度定量評価
SIMS：二次イオン質量分析法
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【分析事例】表面酸化膜のある異物の状態評価
水酸化アルミニウムAl(OH)3と酸化アルミニウムAl2O3の評価が可能です
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【分析事例】錠剤タイプ頭痛薬の組成分布評価
新品と過酷試験後の錠剤断面における成分を可視化
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【分析事例】骨断面の組成分布評価
マウスの脛骨断面の組成分布をTOF-SIMSにより可視化
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【分析事例】生体材料中成分の分布状態の可視化
生体材料の切片作製から分析までまとめて承ります
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【分析事例】錠剤タイプ頭痛薬の成分評価
新品と過酷試験後の成分比較・不明成分の構造推定
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