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【分析事例】SIMSによる酸化ガリウムGa2O3膜不純物濃度評価

不純物元素の定量評価が可能です

酸化ガリウムGa2O3は、SiCやGaNよりもバンドギャップが高く優れた物性を有することから、高効率・低コストが期待できるパワーデバイス材料として注目を集めています。ウエハの開発には、特性を左右する不純物濃度の制御が重要です。本資料ではGa2O3膜の不純物濃度分析を行った事例をご紹介します。 B、Cはバックグラウンドレベル以下、Siは存在していることがわかります。 MSTでは、Ga2O3標準試料を取り揃えており、30種類以上の不純物の定量が可能です。

関連リンク - https://www.mst.or.jp/casestudy/c0416/

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パワーデバイスの分析です

【分析事例】SIMSによる酸化ガリウムGa2O3膜の不純物濃度評価_C0416

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