【分析事例】AES分析による積層試料の割断面評価
割断サンプルで50nm薄膜を可視化
基本情報
詳しいデータはカタログをご覧ください
価格情報
-
納期
用途／実績例
LSI・メモリ・電子部品・製造装置・部品の分析です
カタログ（1）
カタログをまとめてダウンロード
取り扱い会社
MSTは受託分析サービスをご提供する財団法人です。 TEM・SIMS・XRDなど、さまざまな分析装置を保有し、分析ニーズに応えます。 知識豊富な営業担当が、適切な分析プランをご提案。貴社に伺ってのご相談も、もちろん可能です。 ISO9001・ISO27001取得。 製品開発・不良原因の解明・特許調査はぜひご相談ください！ MSTは、あなたの「困った！」を解決へと導きます。
