【分析事例】軟X線発光分光によるGaNの評価
価電子帯・ギャップ内準位について元素別の情報が得られます
基本情報
詳しいデータはカタログをご覧ください
価格情報
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納期
用途／実績例
照明・酸化物半導体・LSI・メモリの分析です
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