【分析事例】二次電池正極の結合状態評価
バインダー・被膜から活物質まで、サンプル本来の状態のまま評価可能！
弊団では、二次電池正極の結合状態評価を行っております。 表面状態を分析する手法の一つであるXPSは、検出深さが浅い(～10nm) こと から、バインダーや導電助剤等の評価に好適。 HAXPESは硬X線(Ga線)励起で検出深さが深いため、バインダー等に埋もれた 活物質の情報をダメージレスに得ることが出来ます。 【測定法・加工法】 ■[XPS]X線光電子分光法 ■[HAXPES]硬X線光電子分光法 ■雰囲気制御下での処理 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
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価格帯
納期
用途／実績例
【分析目的】 ■化学結合状態評価 ■製品調査 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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