［SAXS］X線小角散乱法
・ナノスケールでの周期構造・配向性を評価可能
基本情報
■周期構造による散乱 周期構造による散乱では、(1)のようなプロファイルが得られます。構造単位の周期性がピークとして現れます。低角領域の散乱X線を見ることで、数nm～数十nm程度の分子レベルの周期構造まで測定することができます。 ■粒子内部における散乱 粒子内部における散乱では、(2)のようなプロファイルが得られます。プロファイルの傾きは粒子（空孔）の大きさを反映しており、形状は粒子の形状や粒径分布を反映します。 広角に散乱されたX線⇒?オーダーの結晶の面間隔・歪み・配向性を評価 低角に散乱されたX線⇒ナノオーダーの分子の周期性・配向性を評価
価格情報
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納期
用途／実績例
・高分子材料の結晶性・配向性評価 ・液晶試料の高次構造・ミクロ相分離構造解析 ・ポリスチレンナノ粒子の粒径解析 ・高分子のドメインサイズ評価
詳細情報
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取り扱い会社
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