すべての製品・サービス
1~30 件を表示 / 全 55 件
-
分析機器の活用事例集│ナノカーボン・界面活性剤・ゲル・平板試料
全30事例!ナノカーボン・界面活性剤・ゲル・平板試料等を分析したアプリケーションデータ掲載資料を進呈中
最終更新日
-
分析機器の活用事例集│高分子・無機粒子
全25事例!高分子・無機粒子などを分析したアプリケーションデータ掲載資料を進呈中
最終更新日
-
分析機器の活用事例集│飲料・調味料・添加物等の食品類
全25事例!食品分野のアプリケーションデータを掲載した資料を進呈中
最終更新日
-
分析機器の活用事例集│バイオ・医薬品分野
全30事例!バイオ・医薬品・バイオマテリアル分野のアプリケーションデータを掲載した資料を進呈中
最終更新日
-
インライン反射率評価システム MCPD Series
インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊での透過率、吸光度、色などの検査が可能
最終更新日
-
インライン透過率評価システム MCPD Series
インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊での透過率、吸光度、色などの検査が可能
最終更新日
-
インライン膜厚評価システム MCPD Series
インライン膜厚評価システムは、光学式のため非接触・非破壊膜厚で膜厚測定が可能
最終更新日
-
顕微分光膜厚計 複雑な形状のある任意ポイントの測定
さまざまな用途のDLCコーティング厚みの測定
最終更新日
-
顕微分光膜厚計 nk 未知の極薄膜の測定
複数点同一解析を用いた nk 未知の極薄膜の測定
最終更新日
-
顕微分光膜厚計 厚膜解析方法
屈折率の波長分散性を考慮した厚膜解析
最終更新日
-
顕微分光膜厚計の膜厚解析
表面粗さを考慮した膜厚解析
最終更新日
-
顕微分光膜厚計の構造解析
傾斜モデルを用いた薄膜の構造解析
最終更新日
-
顕微分光膜厚計による透明基板上の高精度膜厚測定
反射対物レンズが実現する透明基板の高精度測定
最終更新日
-
顕微分光膜厚計のメリット
反射分光法と他の測定手法の比較
最終更新日
-
ハンディタイプの厚さ測定装置
使うヒトや場所にしばられない自由に使える高精度な厚さ測定 装置
最終更新日
-
分光配光測定システム
光源や照明器具の配光特性を測定する装置です
最終更新日
-
全光束測定システム HM/FM series
LED単体から照明器具まで幅広い光源の全光束を測定します
最終更新日
-
ゼータ電位・粒度分布測定 プリンター用インクの分散・安定性評価
高濃度状態でインクのゼータ電位・粒子径測定が可能
最終更新日
-
粒径・粒度分布測定 有機顔料の分散性を高濃度状態で評価
プリンター用インクを高濃度状態で粒子径測定
最終更新日
-
その場で測れる!ハンディタイプの高精度 膜厚計
約1.1kgの持ち運べる膜厚計。最薄0.1μmから最大100μmまで、検量線不要で操作簡単 <デモ機を無料貸し出し中>
最終更新日
-
インラインフィルム評価システム MCPD Series
インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊での膜厚、濃度、色などの検査が可能
最終更新日
-
顕微分光膜厚計を用いたSiO2 SiNの膜厚測定
反射分光膜厚計『OPTM』を用いた絶縁膜の膜厚測定
最終更新日
-
顕微分光膜厚計 反射率の変化と膜厚の関係
薄膜から厚膜まで高精度に測定が可能な顕微分光膜厚計『OPTM』
最終更新日
-
ゼータ電位・粒度分布測定 DDSナノ材料リポソームのと等電点評価
ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いてDDSナノ材料リポソームのと等電点評価
最終更新日
-
ゼータ電位・粒度分布測定 DDSナノ材料リポソームの評価
ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いてDDSナノ材料リポソームの粒子径とゼータ電位評価
最終更新日
-
粒径・粒度分布測定装置 種類の異なるリポソームの粒子径評価
粒子径測定装置を用いて種類の異なるリポソームの粒子径評価
最終更新日
-
ロードポート対応膜厚測定システム GS-300
半導体工場の膜厚ニーズに合わせたインテグレーションが可能!
最終更新日
-
高速LED光学特性モニター LE Series
光ファイバーにより自由な測定系が可能!LED生産工程での光学特性を高速で評価します
最終更新日
-
マルチチャンネル分光器 MCPD Series
LED、有機ELなどの光学特性評価に好適!減光機能搭載によりハイパワー光源の評価も可能
最終更新日
-
分光全放射束測定システム HM/FM series
IESNAのLM-79とLM-80に準拠した測定システム!分光全放射束測定の様々な要望に対応
最終更新日