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粒子径・ゼータ電位測定による無機粒子の分散性評価
コロイド分散系における無機粒子のｐHタイトレーションによる等電点の評価
最終更新日
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リタデーション測定装置による超高リタデーション測定
超複屈折フィルムを高速・高精度に測定できる
最終更新日
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顕微分光膜厚計 ハードコートの膜厚測定
ハードコートの膜厚測定
最終更新日
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顕微分光膜厚計 傾斜モデルを用いたITOの構造解析
傾斜モデルを用いたITOの構造解析
最終更新日
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分析機器の活用事例集│ナノカーボン・界面活性剤・ゲル・平板試料
全30事例！ナノカーボン・界面活性剤・ゲル・平板試料等を分析したアプリケーションデータ掲載資料を進呈中
最終更新日
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分析機器の活用事例集│高分子・無機粒子
全25事例！高分子・無機粒子などを分析したアプリケーションデータ掲載資料を進呈中
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分析機器の活用事例集│飲料・調味料・添加物等の食品類
全25事例！食品分野のアプリケーションデータを掲載した資料を進呈中
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分析機器の活用事例集│バイオ・医薬品分野
全30事例！バイオ・医薬品・バイオマテリアル分野のアプリケーションデータを掲載した資料を進呈中
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インライン反射率評価システム MCPD Series
インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊で反射率、色などの測定が可能
最終更新日
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インライン透過率評価システム MCPD Series
インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊で透過率、吸光度、色などの測定が可能
最終更新日
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インライン膜厚評価システム MCPD Series
光干渉法の採用により、非接触・非破壊膜厚で膜厚測定が可能
最終更新日
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顕微分光膜厚計 複雑な形状のある任意ポイントの測定
さまざまな用途のDLCコーティング厚みの測定
最終更新日
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顕微分光膜厚計 nk 未知の極薄膜の測定
複数点同一解析を用いた nk 未知の極薄膜の測定
最終更新日
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顕微分光膜厚計 厚膜解析方法
屈折率の波長分散性を考慮した厚膜解析
最終更新日
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顕微分光膜厚計の膜厚解析
表面粗さを考慮した膜厚解析
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顕微分光膜厚計の構造解析
傾斜モデルを用いた薄膜の構造解析
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顕微分光膜厚計による透明基板上の高精度膜厚測定
反射対物レンズが実現する透明基板の高精度測定
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顕微分光膜厚計のメリット
反射分光法と他の測定手法の比較
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全光束測定システム HM/FM series
LED単体から照明器具まで幅広い光源の全光束測定が可能
最終更新日
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プリンター用インクのゼータ電位・粒子径測定
高濃度試料のゼータ電位・粒子径測定による分散安定性評価
最終更新日
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プリンター用インクを高濃度状態で粒子径・粒子径分布測定
有機顔料の分散性を高濃度状態で評価
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その場で測れる！ハンディタイプの高精度 膜厚計
約1.1kgの持ち運べる膜厚計。最薄0.1μmから最大100μmまで、検量線不要で操作簡単 ＜デモ機を無料貸し出し中＞
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顕微分光膜厚計を用いたSiO2 SiNの膜厚測定
反射分光膜厚計『OPTM』を用いた絶縁膜の膜厚測定
最終更新日
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顕微分光膜厚計 反射率の変化と膜厚の関係
薄膜から厚膜まで高精度に測定が可能な顕微分光膜厚計『OPTM』
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ゼータ電位・粒度分布測定 コロイド粒子のｐH依存性評価
ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いたDDSナノ材料リポソームの等電点評価
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粒子径・粒子径分布測定装置 リポソームの粒子径評価
粒子径測定装置を用いた種類の異なるリポソームの粒子径評価
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ロードポート対応膜厚測定システム GS-300
半導体工場の膜厚ニーズに合わせたインテグレーションが可能！
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高速LED光学特性モニター LE Series
光ファイバーにより自由な測定系が可能 LED生産工程での光学特性を高速で評価
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分光全放射束測定システム HM/FM series
IESNAのLM-79とLM-80に準拠した測定システム！分光全放射束測定の様々な要望に対応
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分光配光測定システム GP series
分光放射強度の角度分布を測定し、配光特性(光度・色度など)を評価！
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