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プリンター用インクの分散・安定性評価
高濃度状態でインクのゼータ電位・粒子径測定が可能
最終更新日
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有機顔料の分散性を高濃度状態で評価
プリンター用インクを高濃度状態で粒子径測定
最終更新日
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その場で測れる!ハンディタイプの高精度膜厚計
約1.1kgの持ち運べる膜厚計。最薄0.1μmから最大100μmまで、検量線不要で操作簡単 <デモ機を無料貸し出し中>
最終更新日
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インラインフィルム評価システム『MCPD Series』
インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊での膜厚、濃度、色などの検査が可能
最終更新日
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反射分光膜厚計を用いたSiO2 SiNの膜厚測定
反射分光膜厚計『OPTM』を用いた絶縁膜の膜厚測定
最終更新日
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光干渉法における膜厚値と反射率の関係
薄膜から厚膜まで高精度に測定が可能な顕微分光膜厚計『OPTM』
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光干渉法の膜厚値違いによる反射率の変化
膜厚値違いによる反射率の変化
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DDSナノ材料リポソームのと等電点評価
ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いてDDSナノ材料リポソームのと等電点評価
最終更新日
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DDSナノ材料リポソームの粒子径とゼータ電位評価
ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いてDDSナノ材料リポソームの粒子径とゼータ電位評価
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種類の異なるリポソームの粒子径評価
ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いて種類の異なるリポソームの粒子径評価
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ロードポート対応膜厚測定システム『GS-300』
半導体工場の膜厚ニーズに合わせたインテグレーションが可能!
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高速LED光学特性モニター『LE Series』
光ファイバーにより自由な測定系が可能!LED生産工程での光学特性を高速で評価します
最終更新日
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マルチチャンネル分光器『MCPD Series』
LED、有機ELなどの光学特性評価に好適!減光機能搭載によりハイパワー光源の評価も可能
最終更新日
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分光全放射束測定システム『HM/FM series』
IESNAのLM-79とLM-80に準拠した測定システム!分光全放射束測定の様々な要望に対応
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分光配光測定システム『GP series』
分光放射強度の角度分布を測定し、配光特性(光度・色度など)を評価!
最終更新日
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紫外放射照度測定システム『MCPD series』
紫外域でも高精度な測定を実現!高斜入射特性など用途にあった照度ヘッドを選択可
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研磨パッドの表面ゼータ電位測定
ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いて研磨パッドの表面ゼータ電位測定
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砥粒の異なるCMPスラリーのゼータ電位測定
CMPスラリーの等電点測定から分散性を評価
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CMPスラリーの塩濃度によるゼータ電位の制御
ゼータ電位でCMPスラリーの分散・安定性を評価
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CMPスラリーとウェーハの静電相互作用
粒子径とゼータ電位からCMPスラリーとウェーハの静電相互作用を評価
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CMPスラリーのゼータ電位・粒子径の制御評価
ゼータ電位・粒子径測定システムを用いてCMPスラリーの非イオン性界面活性剤添加によるゼータ電位・粒子径の制御評価
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細菌から生産された細胞外膜小胞の粒子径・粒子濃度・ゼータ電位測定
ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いた細菌から生産される細胞外膜小胞の粒子径・粒子濃度・ゼータ電位測定
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光干渉法による高精度膜厚測定
光干渉法を用いた顕微分光膜厚計(OPTM)の測定原理
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ラインスキャン膜厚計【オフライン(ウェーハ対応タイプ)】
ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現!
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エクソソームの粒子径・粒子濃度・ゼータ電位測定
ゼータ電位・粒子径測定システムを用いたエクソソームの粒子径・粒子濃度・ゼータ電位測定
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ラインスキャン膜厚計【オフライン】
全面を高速かつ高精度に測定可能!膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポート
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リタデーション測定装置『RETS-100nx』
独自の分光器だからできる高精度測定!かんたんソフトウェアで操作性大幅UP
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高分子相構造解析システム『PP-1000』
サブミクロン~数百ミクロンの構造を評価できる!卓上タイプで実験室に設置可能
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ダイナミック光散乱光度計『DLS-8000 series』
最大4096chの相関計!高分子濃厚溶液などの多モード解析ができます
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遺伝子解析装置『Qsep Ultra』
操作は簡単2step!PCRからキャピラリー電気泳動までシームレス
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