すべての製品・サービス
1～23 件を表示 ／ 全 23 件
-
ロードポート対応膜厚測定システム『GS-300』
半導体工場の膜厚ニーズに合わせたインテグレーションが可能！
最終更新日
-
高速LED光学特性モニター『LE Series』
光ファイバーにより自由な測定系が可能！LED生産工程での光学特性を高速で評価します
最終更新日
-
マルチチャンネル分光器『MCPD Series』
LED、有機ELなどの光学特性評価に好適！減光機能搭載によりハイパワー光源の評価も可能
最終更新日
-
分光全放射束測定システム『HM/FM series』
IESNAのLM-79とLM-80に準拠した測定システム！分光全放射束測定の様々な要望に対応
最終更新日
-
分光配光測定システム『GP series』
分光放射強度の角度分布を測定し、配光特性(光度・色度など)を評価！
最終更新日
-
紫外放射照度測定システム『MCPD series』
紫外域でも高精度な測定を実現！高斜入射特性など用途にあった照度ヘッドを選択可
最終更新日
-
光干渉法による高精度膜厚測定
光干渉法による膜厚測定の原理
最終更新日
-
ラインスキャン膜厚計【オフライン（ウェーハ対応タイプ）】
ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現！
最終更新日
-
エクソソームの粒子径・粒子濃度・ゼータ電位測定
ELSZneoを用いたエクソソームの粒子径・粒子濃度・ゼータ電位測定
最終更新日
-
ラインスキャン膜厚計【オフライン】
全面を高速かつ高精度に測定可能！膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポート
最終更新日
-
リタデーション測定装置『RETS-100nx』
独自の分光器だからできる高精度測定！かんたんソフトウェアで操作性大幅UP
最終更新日
-
高分子相構造解析システム『PP-1000』
サブミクロン～数百ミクロンの構造を評価できる！卓上タイプで実験室に設置可能
最終更新日
-
ダイナミック光散乱光度計『DLS-8000 series』
最大4096chの相関計！高分子濃厚溶液などの多モード解析ができます
最終更新日
-
遺伝子解析装置『Qsep Ultra』
操作は簡単2step！PCRからキャピラリー電気泳動までシームレス
最終更新日
-
分光干渉式ウェーハ膜厚計『SF-3』
各種ウェーハの厚み測定や、各種研削・研磨・貼り合わせなどへのプロセスへの組み込みに！
最終更新日
-
マルチチャンネル分光器『MCPD-9800』
広ダイナミックレンジ！高速・高再現性、軽量・コンパクトが特長的
最終更新日
-
ラインスキャン膜厚計【インラインタイプ】
ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現！
最終更新日
-
膜厚測定装置 スマート膜厚計『SM-100 series』
持ち運び可能なハンディタイプの膜厚測定装置！サンプルを傷つけることもなく測定可能
最終更新日
-
ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム『ELSZneo』
希薄系から濃厚系の高精度な粒子径・ゼータ電位測定 さらに固体表面、分子量の評価まで
最終更新日
-
光波動場三次元顕微鏡『MINUK』
nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能！フォーカス不要で高速測定 目視では見えないフィルム表面を可視化・定量化
最終更新日
-
多検体ナノ粒子径測定システム『nanoSAQLA』
日々の測定をかんたん・手軽に！使いやすさにこだわった粒子径測定装置をご紹介
最終更新日
-
キャピラリ電気泳動システム「Agilent 7100」
毎日のクロマト分析をシンプルな前処理で短時間分析、さらに1台で多成分を分析できるので作業効率が向上！
最終更新日
-
膜厚測定装置 顕微分光膜厚計 『OPTM series』
これまでの膜厚測定のお悩みをこれ1台で解決。1ポイント1秒測定＆測定エリア最小3μｍ！高性能でとにかく使いやすい顕微分光膜厚計
最終更新日
