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分光全放射束測定システム HM/FM series
IESNAのLM-79とLM-80に準拠した測定システム！分光全放射束測定の様々な要望に対応
最終更新日
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分光配光測定システム GP series
分光放射強度の角度分布を測定し、配光特性(光度・色度など)を評価！
最終更新日
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紫外放射照度測定システム MCPD series
紫外域でも高精度な測定を実現！
最終更新日
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ELSZneoを用いた固体表面ゼータ電位測定
研磨パッドの表面ゼータ電位測定
最終更新日
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砥粒の異なるCMPスラリーの分散性評価
CMPスラリーの等電点測定から分散性を評価
最終更新日
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CMPスラリーの塩濃度によるゼータ電位の制御
ゼータ電位測定でCMPスラリーの分散・安定性を評価
最終更新日
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固体表面のゼータ電位測定
ゼータ電位からCMPスラリーとウェーハの静電相互作用を評価
最終更新日
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ゼータ電位・粒子径測定によるＣＭＰスラリーの評価
ゼータ電位・粒子径測定システムを用いてＣＭＰスラリーの非イオン性界面活性剤添加によるゼータ電位・粒子径の評価
最終更新日
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ゼータ電位・粒子径分布・粒子濃度測定による細胞外膜小胞評価
ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いた細菌から生産される細胞外膜小胞評価
最終更新日
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顕微分光膜厚計の測定原理
光干渉法を用いた顕微分光膜厚計（OPTM）の測定原理
最終更新日
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ラインスキャン膜厚計 オフライン（ウェーハ対応タイプ）
ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面検査を実現！
最終更新日
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ゼータ電位・粒子径分布・粒子濃度 エクソソームの評価
ゼータ電位・粒子径測定システムを用いたエクソソームの粒子径・粒子濃度・ゼータ電位測定
最終更新日
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ラインスキャン膜厚計 オフラインタイプ
全面を高速かつ高精度に膜厚測定可能！
最終更新日
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リタデーション測定装置 RETS-100nx
独自の分光器だからできるリタデーションの高精度測定！
最終更新日
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高分子相構造解析システム PP-1000
高分子の構造変化をリアルタイムに評価
最終更新日
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ダイナミック光散乱光度計 DLS-8000 series
動的光散乱法により超微粒子および希薄溶液中の微粒子測定に最適
最終更新日
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Bio Fragment Analyzer Qsep Ultra
PCRからキャピラリー電気泳動までシームレス
最終更新日
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分光干渉式ウェーハ膜厚計 SF-3
各種ウェーハの厚み測定や、各種研削・研磨・貼り合わせなどへのプロセスへの組み込みに！
最終更新日
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マルチチャンネル分光器 MCPD series
広ダイナミックレンジ！高速・高再現性、軽量・コンパクトが特長的
最終更新日
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ラインスキャン膜厚計 インラインタイプ
ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現！
最終更新日
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膜厚測定装置 スマート膜厚計 SM-100 series
持ち運び可能なハンディタイプの膜厚測定装置！サンプルを傷つけることもなく測定可能 ＜デモ機を無料貸し出し中＞
最終更新日
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ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo
希薄系から濃厚系の高精度な粒子径・粒子径分布・ゼータ電位測定 さらに固体表面、分子量の評価まで
最終更新日
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光波動場三次元顕微鏡 MINUK
nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能！フォーカス不要で高速測定 目視では見えないフィルム表面を可視化・定量化
最終更新日
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粒子径・粒子径分布測定装置 多検体ナノ粒子径測定システム
使いやすさにこだわった粒径・粒度分布測定装置
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キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100
簡単な前処理で定性・定量分析! 陽イオン・陰イオン・有機酸・アミノ酸・金属・糖類などを一台の装置で分析可能
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顕微分光膜厚計 OPTM series
1ポイント1秒測定＆測定エリア最小3μｍ！高性能で使いやすい顕微分光膜厚計
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