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分光配光測定システム
分光放射強度の角度分布を測定し、配光特性(光度・色度など)を評価！
最終更新日
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紫外放射照度測定システム MCPD series
紫外域でも高精度な測定を実現！高斜入射特性など用途にあった照度ヘッドを選択可
最終更新日
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固体表面ゼータ電位測定 研磨パッドの表面ゼータ電位測定
ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いて研磨パッドの表面ゼータ電位測定
最終更新日
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ゼータ電位測定 砥粒の異なるCMPスラリーの評価
CMPスラリーの等電点測定から分散性を評価
最終更新日
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ゼータ電位測定 CMPスラリーの塩濃度によるゼータ電位の制御
ゼータ電位測定でCMPスラリーの分散・安定性を評価
最終更新日
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固体表面ゼータ電位・粒度分布測定 ＣＭＰスラリーとウェーハの評価
粒子径とゼータ電位からCMPスラリーとウェーハの静電相互作用を評価
最終更新日
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ゼータ電位・粒度分布測定 ＣＭＰスラリーの制御評価
ゼータ電位・粒子径測定システムを用いてＣＭＰスラリーの非イオン性界面活性剤添加によるゼータ電位・粒子径の制御評価
最終更新日
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ゼータ電位・粒度分布・粒子濃度 細菌から生産された細胞外膜小胞
ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いた細菌から生産される細胞外膜小胞の粒子径・粒子濃度・ゼータ電位測定
最終更新日
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顕微分光膜厚計の測定原理
光干渉法を用いた顕微分光膜厚計（OPTM）の測定原理
最終更新日
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ラインスキャン膜厚計 オフライン（ウェーハ対応タイプ）
ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現！
最終更新日
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ゼータ電位・粒度分布・粒子濃度 エクソソームの評価
ゼータ電位・粒子径測定システムを用いたエクソソームの粒子径・粒子濃度・ゼータ電位測定
最終更新日
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ラインスキャン膜厚計 オフラインタイプ
全面を高速かつ高精度に測定可能！膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポート
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リタデーション測定装置 RETS-100nx
独自の分光器だからできる高精度測定！かんたんソフトウェアで操作性大幅UP
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高分子相構造解析システム PP-1000
サブミクロン～数百ミクロンの構造を評価できる！卓上タイプで実験室に設置可能
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ダイナミック光散乱光度計 DLS-8000 series
最大4096chの相関計！高分子濃厚溶液などの多モード解析ができます
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Bio Fragment Analyzer
操作は簡単2step！PCRからキャピラリー電気泳動までシームレス
最終更新日
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分光干渉式ウェーハ膜厚計 SF-3
各種ウェーハの厚み測定や、各種研削・研磨・貼り合わせなどへのプロセスへの組み込みに！
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マルチチャンネル分光器 MCPD-9800
広ダイナミックレンジ！高速・高再現性、軽量・コンパクトが特長的
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ラインスキャン膜厚計 インラインタイプ
ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現！
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膜厚測定装置 スマート膜厚計 SM-100 series
持ち運び可能なハンディタイプの膜厚測定装置！サンプルを傷つけることもなく測定可能
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固体表面ゼータ電位測定 ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム
希薄系から濃厚系の高精度な粒子径・ゼータ電位測定 さらに固体表面、分子量の評価まで 『ELSZneo』
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光波動場三次元顕微鏡 MINUK
nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能！フォーカス不要で高速測定 目視では見えないフィルム表面を可視化・定量化
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粒径・粒度分布測定装置 多検体ナノ粒子径測定システム
使いやすさにこだわった粒径・粒度分布測定装置『nanoSAQLA』
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キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100
毎日のクロマト分析をシンプルな前処理で短時間分析、さらに1台で多成分を分析できるので作業効率が向上！
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顕微分光膜厚計 OPTM series
1ポイント1秒測定＆測定エリア最小3μｍ！高性能で使いやすい顕微分光 膜厚計
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