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顕微分光膜厚計の膜厚解析
表面粗さを考慮した膜厚解析
最終更新日
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顕微分光膜厚計の構造解析
傾斜モデルを用いた薄膜の構造解析
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顕微分光膜厚計による透明基板上の高精度膜厚測定
反射対物レンズが実現する透明基板の高精度測定
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顕微分光膜厚計のメリット
反射分光法と他の測定手法の比較
最終更新日
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分光配光測定システム Gp series
光源や照明器具の配光特性を測定する装置です
最終更新日
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全光束測定システム HM/FM series
LED単体から照明器具まで幅広い光源の全光束測定が可能
最終更新日
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プリンター用インクのゼータ電位・粒子径測定
高濃度試料のゼータ電位・粒子径測定による分散安定性評価
最終更新日
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プリンター用インクを高濃度状態で粒子径・粒子径分布測定
有機顔料の分散性を高濃度状態で評価
最終更新日
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その場で測れる！ハンディタイプの高精度 膜厚計
約1.1kgの持ち運べる膜厚計。最薄0.1μmから最大100μmまで、検量線不要で操作簡単 ＜デモ機を無料貸し出し中＞
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顕微分光膜厚計を用いたSiO2 SiNの膜厚測定
反射分光膜厚計『OPTM』を用いた絶縁膜の膜厚測定
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顕微分光膜厚計 反射率の変化と膜厚の関係
薄膜から厚膜まで高精度に測定が可能な顕微分光膜厚計『OPTM』
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ゼータ電位・粒度分布測定 コロイド粒子のｐH依存性評価
ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いたDDSナノ材料リポソームの等電点評価
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リポソームの粒子径とゼータ電位評価
ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いたDDSナノ材料リポソームの評価
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粒子径・粒子径分布測定装置 リポソームの粒子径評価
粒子径測定装置を用いた種類の異なるリポソームの粒子径評価
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ロードポート対応膜厚測定システム GS-300
半導体工場の膜厚ニーズに合わせたインテグレーションが可能！
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高速LED光学特性モニター LE Series
光ファイバーにより自由な測定系が可能 LED生産工程での光学特性を高速で評価
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分光全放射束測定システム HM/FM series
IESNAのLM-79とLM-80に準拠した測定システム！分光全放射束測定の様々な要望に対応
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分光配光測定システム GP series
分光放射強度の角度分布を測定し、配光特性(光度・色度など)を評価！
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紫外放射照度測定システム MCPD series
紫外域でも高精度な測定を実現！
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ELSZneoを用いた固体表面ゼータ電位測定
研磨パッドの表面ゼータ電位測定
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砥粒の異なるCMPスラリーの分散性評価
CMPスラリーの等電点測定から分散性を評価
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CMPスラリーの塩濃度によるゼータ電位の制御
ゼータ電位測定でCMPスラリーの分散・安定性を評価
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固体表面のゼータ電位測定
ゼータ電位からCMPスラリーとウェーハの静電相互作用を評価
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ゼータ電位・粒子径測定によるＣＭＰスラリーの評価
ゼータ電位・粒子径測定システムを用いてＣＭＰスラリーの非イオン性界面活性剤添加によるゼータ電位・粒子径の評価
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ゼータ電位・粒子径分布・粒子濃度測定による細胞外膜小胞評価
ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いた細菌から生産される細胞外膜小胞評価
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顕微分光膜厚計の測定原理
光干渉法を用いた顕微分光膜厚計（OPTM）の測定原理
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ラインスキャン膜厚計 オフライン（ウェーハ対応タイプ）
ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面検査を実現！
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ゼータ電位・粒子径分布・粒子濃度 エクソソームの評価
ゼータ電位・粒子径測定システムを用いたエクソソームの粒子径・粒子濃度・ゼータ電位測定
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ラインスキャン膜厚計 オフラインタイプ
全面を高速かつ高精度に膜厚測定可能！
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リタデーション測定装置 RETS-100nx
独自の分光器だからできるリタデーションの高精度測定！
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