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大塚電子Webセミナー 特別講演 （2025年11月19日）
東京理科大学薬学部 准教授 草森先生にご講演いただきます
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第37回散乱研究会（2025年11月21日）
光散乱法を一人でも多くの人に知ってもらうため著名な先生方に講演していただく研究会です【参加無料】
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粒子径・ゼータ電位測定による無機粒子の分散性評価
コロイド分散系における無機粒子のｐHタイトレーションによる等電点の評価
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リタデーション測定装置による超高リタデーション測定
超複屈折フィルムを高速・高精度に測定できる
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顕微分光膜厚計 ハードコートの膜厚測定
ハードコートの膜厚測定
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顕微分光膜厚計 傾斜モデルを用いたITOの構造解析
傾斜モデルを用いたITOの構造解析
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分析機器の活用事例集│ナノカーボン・界面活性剤・ゲル・平板試料
全30事例！ナノカーボン・界面活性剤・ゲル・平板試料等を分析したアプリケーションデータ掲載資料を進呈中
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分析機器の活用事例集│高分子・無機粒子
全25事例！高分子・無機粒子などを分析したアプリケーションデータ掲載資料を進呈中
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分析機器の活用事例集│飲料・調味料・添加物等の食品類
全25事例！食品分野のアプリケーションデータを掲載した資料を進呈中
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分析機器の活用事例集│バイオ・医薬品分野
全30事例！バイオ・医薬品・バイオマテリアル分野のアプリケーションデータを掲載した資料を進呈中
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インライン反射率評価システム MCPD Series
インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊で反射率、色などの測定が可能
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インライン透過率評価システム MCPD Series
インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊で透過率、吸光度、色などの測定が可能
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インライン膜厚評価システム MCPD Series
光干渉法の採用により、非接触・非破壊膜厚で膜厚測定が可能
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顕微分光膜厚計 複雑な形状のある任意ポイントの測定
さまざまな用途のDLCコーティング厚みの測定
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顕微分光膜厚計 nk 未知の極薄膜の測定
複数点同一解析を用いた nk 未知の極薄膜の測定
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顕微分光膜厚計 厚膜解析方法
屈折率の波長分散性を考慮した厚膜解析
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顕微分光膜厚計の膜厚解析
表面粗さを考慮した膜厚解析
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顕微分光膜厚計の構造解析
傾斜モデルを用いた薄膜の構造解析
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顕微分光膜厚計による透明基板上の高精度膜厚測定
反射対物レンズが実現する透明基板の高精度測定
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顕微分光膜厚計のメリット
反射分光法と他の測定手法の比較
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全光束測定システム HM/FM series
LED単体から照明器具まで幅広い光源の全光束測定が可能
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プリンター用インクのゼータ電位・粒子径測定
高濃度試料のゼータ電位・粒子径測定による分散安定性評価
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プリンター用インクを高濃度状態で粒子径・粒子径分布測定
有機顔料の分散性を高濃度状態で評価
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その場で測れる！ハンディタイプの高精度 膜厚計
約1.1kgの持ち運べる膜厚計。最薄0.1μmから最大100μmまで、検量線不要で操作簡単 ＜デモ機を無料貸し出し中＞
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顕微分光膜厚計を用いたSiO2 SiNの膜厚測定
反射分光膜厚計『OPTM』を用いた絶縁膜の膜厚測定
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顕微分光膜厚計 反射率の変化と膜厚の関係
薄膜から厚膜まで高精度に測定が可能な顕微分光膜厚計『OPTM』
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ゼータ電位・粒度分布測定 コロイド粒子のｐH依存性評価
ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いたDDSナノ材料リポソームの等電点評価
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粒子径・粒子径分布測定装置 リポソームの粒子径評価
粒子径測定装置を用いた種類の異なるリポソームの粒子径評価
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ロードポート対応膜厚測定システム GS-300
半導体工場の膜厚ニーズに合わせたインテグレーションが可能！
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高速LED光学特性モニター LE Series
光ファイバーにより自由な測定系が可能 LED生産工程での光学特性を高速で評価
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