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【分析事例】X線小角散乱法によるAuナノ粒子の粒径解析

SAXS分析では粒径の統計的な分布の把握が可能!固体/液体の状態を問わずin situでの評価ができます

弊団では、X線小角散乱法によるAuナノ粒子の粒径解析を承っております。 金属ナノ粒子はバルクの金属には見られない特異な性質を示すことが 知られています。高い触媒性や表面プラズモン共鳴のような光学特性から、 燃料電池の電極触媒やバイオセンサー等に用いられています。これらの 特性を制御するためには、構造や組成等を把握する必要があります。 TEMとSAXSを相補的に用いることで信頼性の高い粒径解析を実施することが 可能です。 【測定法・加工法】 ■[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法 ■[SAXS]X線小角散乱法 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

関連リンク - https://www.mst.or.jp/casestudy/c0613/

基本情報

【製品分野】 ■二次電池 ■燃料電池 ■化粧品 ■その他 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

価格帯

納期

用途/実績例

【分析目的】 ■形状評価 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

【分析事例】X線小角散乱法によるAuナノ粒子の粒径解析_C0613

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