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［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法
有機化合物の定性・定量を行う分析手法です
最終更新日
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［XRR］X線反射率法
XRR：X-ray Reflectivity
最終更新日
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［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法
試料表面の構造解析を行う手法です。他の分析装置に比べ表面に敏感であることから、最表面の有機汚染の同定などに適した手法です
最終更新日
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［UPS］紫外光電子分光法
試料表面の組成の定性・定量や仕事関数評価に
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［SAXS］X線小角散乱法
・ナノスケールでの周期構造・配向性を評価可能
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［SCM］［SNDM］
キャリア分布を二次元的に可視化
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白色干渉計測法
非接触・非破壊で3次元測定可能
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分析訪問セミナー
分析のセミナーを無償にて行います！
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［ICP-MS］誘導結合プラズマ質量分析法
導結合プラズマ（ICP）を励起源として用いた無機元素分析の手法です
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［TG-DTA/TG-DTA-MS］示差熱天秤-質量分析法
サンプルを加熱することによって生じる重量変化・示差熱・熱量および揮発成分の質量を測定
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［EBIC］電子線誘起電流
試料内部の電界構造（半導体の接合構造）に関する情報を得ることができる手法
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［SEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（SEM）
電子線照射により発生する特性X線を検出し、エネルギーで分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です
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［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法
電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定することによって、物質の構成元素や電子構造を分析
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［SIM］走査イオン顕微鏡法
高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能
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［SSRM］走査型広がり抵抗顕微鏡法
ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能
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［FIB］集束イオンビーム加工
FIBは、数nm～数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走査させることにより特定領域を削ったり成膜することが可能です
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［IP法］Arイオン研磨加工
IP法は、研磨法の一種でイオンビームを用いて加工する方法です
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大気非暴露下での処理
サンプル本来の状態を評価することが可能
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クライオ加工
やわらかいサンプルを冷却、硬化させ切削可能に
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【分析事例】トランジスタ（MOSFET）の拡散層分布評価
SCMによる特定箇所の拡散層評価
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【分析事例】CIGS薄膜太陽電池の結晶粒と抵抗評価
同一箇所における抵抗分布と結晶粒・結晶粒界評価
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【分析事例】CIGS薄膜太陽電池バッファ層界面の観察
超高分解能STEMによるZn(S、 O、 OH)/CIGS接合界面の結晶構造評価
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【分析事例】有機薄膜太陽電池電極界面の状態、有機膜の分散状態評価
雰囲気の影響を最小限に抑えた総合的な評価解析が可能です
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【分析事例】LIBの充放電サイクル試験後の劣化評価
電池セルの作製から充放電サイクル試験から解体、劣化成分量の調査まで
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【分析事例】リチウムイオン二次電池負極の劣化評価
電池セルの作製・劣化試験・解体・劣化による状態変化の調査まで一貫評価
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【分析事例】リチウムイオン二次電池電解液の主成分評価
実験セルを問わず解体し、分析します
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【分析事例】SIMSによるSiO2中アルカリ金属深さ方向分布評価
試料冷却による高精度なアルカリ金属の分布評価
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【分析事例】SIMSによるSi表面近傍のBの深さ方向分布評価
試料冷却による高精度なBのプロファイル分析
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【分析事例】カーボン膜の構造評価
構造特定・結晶性・sp3性の評価
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【分析事例】エルゴチオネインのLC/MS分析
天然物由来のアミノ酸類の収率や精製レベルを評価
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