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【分析事例】SIMSのa-Si薄膜太陽電池ドーパント濃度分布評価
対象元素に応じて測定条件を選択
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【分析事例】SIMSによるUVセンサAlGaN中不純物濃度度評価
様々なAl組成のAlGaN標準試料をラインアップ
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【分析事例】SIMSによるSi酸化膜・ITO膜中の｢水」の評価
｢重水(D2O)処理」を用いた水素の深さ方向分析
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【分析事例】有機EL層の定性分析
雰囲気制御下での測定面出し加工により成分の変質を抑制
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【分析事例】リチウムイオン二次電池 電解液の劣化成分分析
LC/MS/MS分析による劣化成分の構造推定
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【分析事例】リチウムイオン二次電池の加熱劣化試験
加熱劣化後のサンプルをLC/MS/MS、TOF-SIMS、TEM+EDXなどで評価可能
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【分析事例】リチウムイオン二次電池 Si負極の評価
充電前後の電極の様子およびLiの存在・分布を評価可能
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【分析事例】リチウムイオン二次電池電極材料の評価
正極合剤の各種部材の分散の評価
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【分析事例】エポキシ樹脂の硬化温度･ガラス転移温度調査
DSC（示差走査熱量）測定による熱物性評価
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GC/MSを用いた発生ガス分析及び高分子材料の同定
熱分解GC/MSの原理とアプリケーションについて
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【分析事例】白色粉体の複合分析
FT-IR分析とXRF分析による粉体の同定
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【分析事例】HF処理前後における骨の状態評価
ラマン分析を用いた薬液処理前後の状態評価
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【分析事例】熱分解GC/MSダブルショット法、プラ・添加剤の同定
TG-DTAとGC/MSを用いた複合解析
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【分析事例】熱履歴を考慮した異物の成分同定
熱履歴を揃えた標準試料の活用提案
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【分析事例】ウォーターマーク原因調査
TOF-SIMSを用いた最表面の汚染源の特定
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【分析事例】めっき・塗装等の剥離原因調査
TOFーSIMSによる剥離面の汚染源の特定
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雰囲気制御&冷却下でのSEM分析
雰囲気制御下での処理 クライオ加工 冷却 SEM： 走査電子顕微鏡法他
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雰囲気制御&冷却下でのTEM分析
雰囲気制御下での処理 クライオ加工 冷却 TEM： 透過電子顕微鏡法他
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【分析事例】結晶Si太陽電池のキャリア分布評価
表面凹凸のあるサンプルでのキャリア拡散層の均一性評価
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【分析事例】結晶Si太陽電池の不純物評価
金属元素および大気成分元素の極微量分析
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【分析事例】結晶Si太陽電池の拡散層評価
ドーパントの定量評価およびキャリアの分布評価
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【分析事例】多結晶シリコン太陽電池のPLマッピング
太陽電池セルの欠陥の位置を非破壊で特定することができます
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【分析事例】液体中微粒子の構造・分散具合評価
クライオSEMを用いた液体状試料の断面構造観察
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【分析事例】歯のエナメル小柱の断面観察
FIB加工技術を応用し、エナメル質／接着材界面の全景を観察
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【分析事例】劣化の激しい有機材料の状態評価
雰囲気制御下でのサンプリングで材料の正確な評価が可能です
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【分析事例】プリント基板上有機物系異物の分析
適切なサンプリングと顕微測定で異物周辺情報の影響を軽減
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ウルトラミクロトーム加工
ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過電子顕微鏡用の超薄切片を作製する加工法です
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Arイオンミリング加工
機械研磨を行った後低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ50nm以下の透過電子顕微鏡用の薄膜試料を作製する加工法です
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［TOC］全有機体炭素測定
TOC計は、試料中の全炭素量 、全有機体炭素量、無機体炭素量（IC：を評価することができる装置です
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［RBS］ラザフォード後方散乱分析法
固体試料にイオンビームを照射し、ラザフォード散乱によって後方に散乱されてくるイオンのエネルギーおよび強度を測定する手法です
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