[FIB-MS]集束イオンビーム質量分析法
SEM装置に搭載されたFIBとTOF型質量分析器を用い、微小箇所の形状観察と元素イメージングを同時に行うことのできる手法です。
基本情報
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価格帯
納期
用途／実績例
・面分析による元素分布の可視化（数μm～200μm角程度） ・リチウムイオン二次電池における電極のH、Li、Fの分布評価、劣化評価 ・サブミクロンオーダーの異物の組成分析
取り扱い会社
MSTは受託分析サービスをご提供する財団法人です。 TEM・SIMS・XRDなど、さまざまな分析装置を保有し、分析ニーズに応えます。 知識豊富な営業担当が、適切な分析プランをご提案。貴社に伺ってのご相談も、もちろん可能です。 ISO9001・ISO27001取得。 製品開発・不良原因の解明・特許調査はぜひご相談ください！ MSTは、あなたの「困った！」を解決へと導きます。
